參數(shù)資料
型號： AD5162BRM2.5
廠商： Analog Devices Inc
文件頁數(shù)： 4/20頁
文件大小： 0K
描述： IC POT DUAL 2.5K 256POS 10-MSOP
標準包裝： 50
接片： 256
電阻（歐姆）： 2.5k
電路數(shù)： 2
溫度系數(shù)： 標準值 35 ppm/°C
存儲器類型： 易失
接口： 3 線串行（芯片選擇）
電源電壓： 2.7 V ~ 5.5 V
工作溫度： -40°C ~ 125°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 10-TFSOP，10-MSOP（0.118"，3.00mm 寬）
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 10-MSOP
包裝： 管件
配用： AD5162EVAL-ND - BOARD EVAL FOR AD5162
AD5162
Rev. C | Page 12 of 20
TEST CIRCUITS
Figure 27 through Figure 32 illustrate the test circuits that define the test conditions used in the product specification tables (see Table 1
04108-0-027
VMS
A
W
B
DUT
V+
V+ = VDD
1LSB = V+/2N
Figure 27. Test Circuit for Potentiometer Divider Nonlinearity Error
(INL, DNL)
04108-0-028
NO CONNECT
IW
VMS
A
W
B
DUT
Figure 28. Test Circuit for Resistor Position Nonlinearity Error
(Rheostat Operation: R-INL, R-DNL)
04108-0-029
VMS2
VMS1
VW
A
W
B
DUT
IW = VDD/RNOMINAL
RW = [VMS1 – VMS2]/IW
Figure 29. Test Circuit for Wiper Resistance
04108-0-030
V
MS%
DUT
(
)
A
W
B
V+
V
DD%
V
MS
V
DD
V
DD
VA
VMS
V+ = VDD ± 10%
PSRR (dB) = 20 LOG
PSS (%/%) =
Figure 30. Test Circuit for Power Supply Sensitivity
(PSS, PSSR)
04108-0-031
+15V
–15V
W
A
2.5V
B
VOUT
OFFSET
GND
DUT
AD8610
VIN
Figure 31. Test Circuit for Gain vs. Frequency
W
B
VCM
ICM
A
NC
GND
NC
VDD
DUT
NC = NO CONNECT
04108-0-033
Figure 32. Test Circuit for Common-Mode Leakage Current
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PDF描述
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