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參數資料
| 型號： | A40MX02-3PQ100I |
| 英文描述： | Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| 中文描述： | 現場可編程門陣列（FPGA） |
| 文件頁數： | 10/116頁 |
| 文件大?。?/td> | 3110K |
| 代理商： | A40MX02-3PQ100I |
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40MX and 42MX FPGA Families
10
v5.0
Test Circuitry
All devices contain Actel
’
s ActionProbe test circuitry which
test and debug a design once it is programmed into a device.
Once a device has been programmed, the ActionProbe test
circuitry allows the designer to probe any internal node
during device operation to aid in debugging a design. In
addition, 42MX devices contain IEEE Standard 1149.1
boundary scan test circuitry.
IEEE Standard 1149.1 Boundary Scan Testing (BST)
IEEE Standard 1149.1 defines a four-pin Test Access Port
(TAP) interface for testing integrated circuits in a system.
The 42MX family provides five BST pins: Test Data In (TDI),
Test Data Out (TDO), Test Clock (TCK), and Test Mode
Select Test Reset (TRST) (42MX24A only). Devices are
configured in a test
“
chain
”
where BST data can be
transmitted serially between devices via TDO-to-TDI
interconnections. The TMS and TCK signals are shared
among all devices in the test chain so that all components
operate in the same state.
The 42MX family implements a subset of the IEEE Standard
1149.1 BST instruction in addition to a private instruction,
which allows the use of Actel
’
s ActionProbe facility with
BST. Refer to the IEEE Standard 1149.1 specification for
detailed information regarding BST.
Boundary Scan Circuitry
The 42MX boundary scan circuitry consists of a Test Access
Port (TAP) controller, test instruction register, a JPROBE
register, a bypass register, and a boundary scan register.
Figure 11 on page 11
shows a block diagram of the 42MX
boundary scan circuitry.
Figure 10
Quadrant Clock Network
Quad
Clock
Module
QCLKA
QCLKB
*QCLK1IN
S0 S1
QCLK1
Quad
Clock
Module
*QCLK2IN
S0 S1
QCLK2
Quad
Clock
Module
QCLKC
QCLKD
*QCLK3IN
S0
S1
QCLK3
Quad
Clock
Module
*QCLK4IN
S0
S1
QCLK4
*QCLK1IN, QCLK2IN, QCLK3IN, and QCLK4IN are internally-generated signals.
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
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參數描述 |
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