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參數(shù)資料
| 型號： | 74HC4040DB,112 |
| 廠商： | NXP Semiconductors |
| 文件頁數(shù)： | 3/20頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC 12STAGE BINARY RIPPLE 16SSOP |
| 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： | Logic Packages |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 78 |
| 系列： | 74HC |
| 邏輯類型： | 二進制計數(shù)器 |
| 方向： | 上 |
| 元件數(shù)： | 1 |
| 每個元件的位元數(shù)： | 12 |
| 復(fù)位： | 異步 |
| 計數(shù)速率： | 98MHz |
| 觸發(fā)器類型： | 負邊沿 |
| 電源電壓： | 2 V ~ 6 V |
| 工作溫度： | -40°C ~ 125°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 16-SSOP（0.209"，5.30mm 寬） |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 16-SSOP |
| 包裝： | 管件 |
| 其它名稱： | 74HC4040DB 74HC4040DB-ND 935174930112 |
74HC_HCT4040
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NXP Semiconductors N.V. 2014. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 4 — 20 March 2014
11 of 20
NXP Semiconductors
74HC4040; 74HCT4040
12-stage binary ripple counter
Test data is given in Table 8.
Definitions test circuit:
RT = termination resistance should be equal to output impedance Zo of the pulse generator.
CL = load capacitance including jig and probe capacitance.
Fig 9.
Test circuit for measuring switching times
001aah768
tW
tr
tf
VM
VI
negative
pulse
GND
VI
positive
pulse
GND
10 %
90 %
10 %
VM
tf
VCC
DUT
RT
VI
VO
CL
G
Table 8.
Test data
Type
Input
Load
Test
VI
tr, tf
CL
74HC4040
VCC
6.0 ns
15 pF, 50 pF
tPLH, tPHL
74HCT4040
3.0 V
6.0 ns
15 pF, 50 pF
tPLH, tPHL
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| 74HC4040DT | 制造商:NXP Semiconductors 功能描述:12-stage binary ripple counter |
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