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參數(shù)資料
| 型號： | XC5VLX50-1FF676C |
| 廠商： | Xilinx Inc |
| 文件頁數(shù)： | 31/91頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA VIRTEX-5 50K 676FBGA |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 1 |
| 系列： | Virtex®-5 LX |
| LAB/CLB數(shù)： | 3600 |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 46080 |
| RAM 位總計： | 1769472 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 440 |
| 電源電壓： | 0.95 V ~ 1.05 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 676-BBGA，F(xiàn)CBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 676-FCBGA（27x27） |
| 配用： | 568-5088-ND - BOARD DEMO DAC1408D750 HW-V5-ML561-UNI-G-ND - EVALUATION PLATFORM VIRTEX-5 HW-V5-ML550-UNI-G-ND - EVALUATION PLATFORM VIRTEX-5 HW-V5-ML521-UNI-G-ND - EVALUATION PLATFORM VIRTEX-5 HW-AFX-FF676-500-G-ND - BOARD DEV VIRTEX 5 FF676 HW-V5GBE-DK-UNI-G-ND - KIT DEV V5 LXT GIGABIT ETHERNET 122-1508-ND - EVALUATION PLATFORM VIRTEX-5 |
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Virtex-5 FPGA Data Sheet: DC and Switching Characteristics
DS202 (v5.3) May 5, 2010
Product Specification
37
I/O Standard Adjustment Measurement Methodology
Input Delay Measurements
Table 58 shows the test setup parameters used for measuring input delay.
Table 58: Input Delay Measurement Methodology
Description
I/O Standard Attribute
VL(1,2)
VH(1,2)
VMEAS(1,4,5)
VREF(1,3,5)
LVTTL (Low-Voltage Transistor-Transistor Logic) LVTTL
0
3.0
1.4
–
LVCMOS (Low-Voltage CMOS), 3.3V
LVCMOS33
0
3.3
1.65
–
LVCMOS, 2.5V
LVCMOS25
0
2.5
1.25
–
LVCMOS, 1.8V
LVCMOS18
0
1.8
0.9
–
LVCMOS, 1.5V
LVCMOS15
0
1.5
0.75
–
LVCMOS, 1.2V
LVCMOS12
0
1.2
0.6
–
PCI (Peripheral Component Interconnect),
33 MHz, 3.3V
PCI33_3
Per PCI Specification
–
PCI, 66 MHz, 3.3V
PCI66_3
Per PCI Specification
–
PCI-X, 133 MHz, 3.3V
PCIX
Per PCI-X Specification
–
GTL (Gunning Transceiver Logic)
GTL
VREF –0.2
VREF +0.2
VREF
0.80
GTL Plus
GTLP
VREF –0.2
VREF +0.2
VREF
1.0
HSTL (High-Speed Transceiver Logic),
Class I & II
HSTL_I, HSTL_II
VREF –0.5
VREF +0.5
VREF
0.75
HSTL, Class III & IV
HSTL_III, HSTL_IV
VREF –0.5
VREF +0.5
VREF
0.90
HSTL, Class I & II, 1.8V
HSTL_I_18, HSTL_II_18
VREF –0.5
VREF +0.5
VREF
0.90
HSTL, Class III & IV, 1.8V
HSTL_III_18, HSTL_IV_18
VREF –0.5
VREF +0.5
VREF
1.08
SSTL (Stub Terminated Transceiver Logic),
Class I & II, 3.3V
SSTL3_I, SSTL3_II
VREF –1.00
VREF +1.00
VREF
1.5
SSTL, Class I & II, 2.5V
SSTL2_I, SSTL2_II
VREF –0.75
VREF +0.75
VREF
1.25
SSTL, Class I & II, 1.8V
SSTL18_I, SSTL18_II
VREF –0.5
VREF +0.5
VREF
0.90
AGP-2X/AGP (Accelerated Graphics Port)
AGP
VREF –(0.2 xVCCO)VREF +(0.2 xVCCO)VREF
AGP Spec
LVDS (Low-Voltage Differential Signaling), 2.5V LVDS_25
1.2 – 0.125
1.2 + 0.125
0(6)
LVDSEXT (LVDS Extended Mode), 2.5V
LVDSEXT_25
1.2 – 0.125
1.2 + 0.125
0(6)
LDT (HyperTransport), 2.5V
LDT_25
0.6 – 0.125
0.6 + 0.125
0(6)
LVPECL (Low-Voltage Positive Emitter-Coupled
Logic), 2.5V
LVPECL_25
1.15 – 0.3
0(6)
Notes:
1.
The input delay measurement methodology parameters for LVDCI are the same for LVCMOS standards of the same voltage. Input delay
measurement methodology parameters for HSLVDCI are the same as for HSTL_II standards of the same voltage. Parameters for all other DCI
standards are the same for the corresponding non-DCI standards.
2.
Input waveform switches between VLand VH.
3.
Measurements are made at typical, minimum, and maximum VREF values. Reported delays reflect worst case of these measurements. VREF values
listed are typical.
4.
Input voltage level from which measurement starts.
5.
This is an input voltage reference that bears no relation to the VREF / VMEAS parameters found in IBIS models and/or noted in Figure 11.
6.
The value given is the differential input voltage.
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