參數(shù)資料
型號： x93154
元件分類： 數(shù)字電位計
英文描述： Low Noise, Low Power, 32 Taps Digitally Controlled Potentiometer(低噪音，低電壓，32個抽頭,數(shù)字電位器)
中文描述： 低噪聲，低功耗，32絲錐數(shù)控電位器（低噪音，低電壓，32個抽頭，數(shù)字電位器）
文件頁數(shù)： 4/12頁
文件大?。?/td> 115K
代理商： X93154
X93154
4 of 12
REV 1.3.13 6/19/03
www.xicor.com
D.C. OPERATING CHARACTERISTICS
(Over recommended operating conditions unless otherwise specified.)
ENDURANCE AND DATA RETENTION
Test Circuit #1
Circuit #2 SPICE Macro Model
A.C. CONDITIONS OF TEST
Symbol
I
CC1
Parameter
Limits
Typ.
(4)
50
Unit
μA
Test Conditions
CS = V
IL
, U/D = V
IL
or V
IH
and
INC = 0.4V @ max. t
CYC
CS = V
IH
, U/D = V
IL
or V
IH
and
INC = V
IH
@ max. t
WR
CS = V
CC
– 0.3V, U/D and
INC = V
SS
or V
CC
– 0.3V
V
IN
= V
CC
V
CC
= 3V, CS = 0
V
IN
= V
SS
to V
CC
Min.
Max.
250
V
CC
active current (Increment)
I
CC2
V
CC
active current (Store)
(EEPROM Store)
Standby supply current
600
μA
I
SB
1
μA
I
LI
I
LI
I
LI
V
IH
V
IL
CS
CS
INC, U/D input leakage current
CS, INC, U/D input HIGH voltage
CS, INC, U/D input LOW voltage
CS, INC, U/D input capacitance
±1
150
±1
μA
μA
μA
V
V
pF
60
100
V
CC
x 0.7
–0.5
V
CC
+ 0.5
V
CC
x 0.1
10
C
IN
(5)(7)
V
CC
= 3V, V
IN
= V
SS
,
T
A
= 25°C, f = 1MHz
Parameter
Minimum endurance
Data retention
Min.
20,000
10
Unit
Data changes per bit
Years
V
L
Test Point
V
H
/R
H
C
H
C
L
10pF
10pF
R
H
R
TOTAL
C
W
25pF
R
L
Input pulse levels
Input rise and fall times
Input reference levels
0V to 3V
10ns
1.5V
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PDF描述
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