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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | TA1360ANG |
| 廠商： | Toshiba Corporation |
| 英文描述： | TOSHIBA Bipolar Linear Integrated Circuit Silicon Monolithic |
| 中文描述： | 東芝雙極線性集成電路硅單片 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 93/110頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 1425K |
| 代理商： | TA1360ANG |
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TA1360AFG
2003-01-21
93
Test Conditions
SW Mode
SW25 SW24 SW21 SW19 SW18
A
A
A
Note
No.
Characteristics
SW68 SW67 SW66 SW26
A
B
Test Method
T35 Blue stretch
point/gain
B
A
A
A
1. Input RAMP signal 0.7 Vp-p from pin 68.
2. Set subcontrast data to maximum.
3. Set subaddress (15) data to (0C).
4. Set subaddress (1A) data to (C0), monitor pin 14, and measure blue stretch start point using
the figure below (BLP
min
).
5. Set subaddress (1A) data to (CC), and repeat the step 4 above. (BLP
max
)
6. Set subaddress (1A) data to (C4).
7. Monitor pin 14 and measure gradient at blue stretch ON in decibel in relation to the one at
blue stretch OFF according to the figure below. (BLG
max
)
8. Set subaddress (15) data to (04), and repeat the step 7 above. (BLG
min
)
Note: Calculate blue stretch start point in IRE as setting positive amplitude at pedestal level of
output signal to 2.3 Vp-p = 100 IRE.
Output amplitude
Blue stretch ON
Blue stretch OFF
Input amplitude
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