參數(shù)資料
型號: SMP30-270
廠商: 意法半導體
英文描述: TRISILTM
中文描述: TRISILTM
文件頁數(shù): 7/8頁
文件大?。?/td> 90K
代理商: SMP30-270
SMP30-xxx
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TEST CIRCUIT 3 for I
H
PARAMETERS.
R
V
BAT
= - 48 V
Surge generator
D.U.T
This is a GO-NO GO test which allows to confirm the holding current (I
H
) level in a functional test circuit.
TEST PROCEDURE :
- Adjust the current level at the I
H
value by short circuiting the D.U.T.
- Fire the D.U.T. with a surge current : I
pp
= 10A, 10/1000
μ
s.
- The D.U.T. will come back to the off-state within 50 ms max.
PACKAGE MECHANICAL DATA
SMA (JEDEC DO-214AC)
REF.
DIMENSIONS
Millimeters
Min.
1.90
0.05
1.25
0.15
4.80
3.95
2.25
0.75
Inches
Max.
2.70
0.20
1.65
0.41
5.60
4.60
2.95
1.60
Min.
0.075
0.002
0.049
0.006
0.189
0.156
0.089
0.030
Max.
0.106
0.008
0.065
0.016
0.220
0.181
0.116
0.063
A1
A2
b
c
E
E1
D
L
2.40
(0.094)
1
1.45
(0.057)
1.45
(0.057)
(
FOOT PRINT
in millimeters (in inches)
E
C
L
E1
D
A1
A2
b
相關PDF資料
PDF描述
SMP30-62 TRISILTM
SMP30-68 TRISILTM
SMP30-XXX TRISILTM
SMP30 TELECOM EQUIPMENT PROTECTION: TRISIL
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參數(shù)描述
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