參數(shù)資料
型號(hào)： P1553Z
英文描述： solid state crowbar devices
中文描述： 固態(tài)撬棍設(shè)備
文件頁(yè)數(shù)： 134/212頁(yè)
文件大?。?/td> 1877K
代理商： P1553Z
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ITU-T K.20 and K.21
http://www.teccor.com
+1 972-580-7777
4 - 10
2002 Teccor Electronics
SIDACtor
Data Book and Design Guide
ITU-T K.20 and K.21
Although the International Telecommunication Union (ITU) does not have the authority to
legislate that organizations follow their recommendations, their standards are recognized
throughout Europe and the Far East.
ITU-T, the Telecommunication Standardization Sector of the ITU, developed fundamental
testing methods that cover various environmental conditions to help predict the survivability
of network and customer-based switching equipment. The testing methods cover the
following conditions:
Surges due to lightning strikes on or near twisted pair and plant equipment (excluding a
direct strike)
Short-term induction of AC voltage from adjacent power lines or railway systems
Direct contact between telecommunication lines and power lines (often referred to as
AC power cross)
Two ITU-T standards apply for most telecommunications equipment connected to the
network:
ITU-T K.20
ITU-T K.21
ITU-T K.20 is primarily for switching equipment powered by the central office; however, for
complex subscriber equipment, test administrators may choose either K.20 or K.21,
depending on which is deemed most appropriate.
Note: Both standards are intended to address equipment reliability versus equipment
safety. For specific concerns regarding equipment safety, research and follow
national standards for each country in which the equipment is intended for use.
K.21 covers telecommunication equipment installed in customer premises. Equipment
submitted under these requirements must meet one of two levels: basic or enhanced.
Guidelines for determining under which level the equipment under test (EUT) falls can be
found in ITU-T K.11, but note that the final authority rests with the test administrator.
ITU-T K.44 describes the test conditions used in K.20 and K.21.
ITU-T defines the following acceptance criteria:
Criterion A
states that equipment shall withstand the test without damage and shall
operate properly after the test. It is not required to operate correctly during the test.
Criterion B
states that a fire hazard shall not occur as a result of the tests. Any damage
shall be confined to a small part of the equipment.
Table 4.10 shows the lightning surge test conditions for ITU K.20. Figure 4.3 shows the
connection schematic for the lightning surge tests. Table 4.11 shows the power cross test
conditions for ITU K.20. Figure 4.4 shows the connection schematic for the power cross
tests. Table 4.12 and Table 4.13 show the same test conditions respectively for ITU K.21.
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PDF描述
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P1553ZC 功能描述:硅對(duì)稱(chēng)二端開(kāi)關(guān)元件 12Chp 130V 500A RoHS:否 制造商:Bourns 轉(zhuǎn)折電流 VBO:40 V 最大轉(zhuǎn)折電流 IBO:800 mA 不重復(fù)通態(tài)電流: 額定重復(fù)關(guān)閉狀態(tài)電壓 VDRM:25 V 關(guān)閉狀態(tài)漏泄電流（在 VDRM IDRM 下）: 保持電流（Ih 最大值）:50 mA 開(kāi)啟狀態(tài)電壓:5 V 關(guān)閉狀態(tài)電容 CO:120 pF 最大工作溫度:+ 150 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:DO-214AA
P15542EJ1V0IF00 制造商:未知廠家 制造商全稱(chēng):未知廠家 功能描述:24/28/36-pin QFN Package for Silicon MMIC Taping Specifications and Packing Outline Drawing
P1556U_L 制造商:LITTELFUSE 制造商全稱(chēng):Littelfuse 功能描述:Multiport Balanced SIDACtor
P1556UALRP 功能描述:硅對(duì)稱(chēng)二端開(kāi)關(guān)元件 6Chp 130V 50A RoHS:否 制造商:Bourns 轉(zhuǎn)折電流 VBO:40 V 最大轉(zhuǎn)折電流 IBO:800 mA 不重復(fù)通態(tài)電流: 額定重復(fù)關(guān)閉狀態(tài)電壓 VDRM:25 V 關(guān)閉狀態(tài)漏泄電流（在 VDRM IDRM 下）: 保持電流（Ih 最大值）:50 mA 開(kāi)啟狀態(tài)電壓:5 V 關(guān)閉狀態(tài)電容 CO:120 pF 最大工作溫度:+ 150 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:DO-214AA
P1556UALTP 功能描述:硅對(duì)稱(chēng)二端開(kāi)關(guān)元件 6Chp 130V 50A RoHS:否 制造商:Bourns 轉(zhuǎn)折電流 VBO:40 V 最大轉(zhuǎn)折電流 IBO:800 mA 不重復(fù)通態(tài)電流: 額定重復(fù)關(guān)閉狀態(tài)電壓 VDRM:25 V 關(guān)閉狀態(tài)漏泄電流（在 VDRM IDRM 下）: 保持電流（Ih 最大值）:50 mA 開(kāi)啟狀態(tài)電壓:5 V 關(guān)閉狀態(tài)電容 CO:120 pF 最大工作溫度:+ 150 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:DO-214AA
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