參數(shù)資料
型號： P1100EARP2
英文描述： MCU CMOS 18LD 2K FLASH, 0C to +70C, 18-SOIC 300mil, TUBE
中文描述： SIDAC的| 130V五（公報）最大| 800mA的我（縣）|對92VAR
文件頁數(shù)： 101/161頁
文件大小： 986K
代理商： P1100EARP2
SIDACtor
Data Book
UL 1950 3RD Edition/CSA C22.2 No. 950-95
Teccor Electronics
(972) 580-7777
4 - 27
R
R
Table 4-18 UL 1950 Over-Voltage Test
Notes:
1. If the equipment design uses a voltage limiter designed to breakdown at a level of greater than 285V
PK
, then
a voltage below this level is to be used during this test.
2. As an alternative test procedure, where a fuse causes an open circuit during test, the fuse may be
bypassed and the available short circuit current applied set to 135% of the fuse rating.
Figure 4-12 Metallic Connection Appearances
Test
Voltage
(V
RMS
)
Current
(A)
Time
Comments
1
600
40
1.5s
Tests applied as shown in
Figures: 4-12 & 4-13
Tests applied as shown in
Figures: 4-12 & 4-13
Test applied as shown in
Figures: 4-12 & 4-13
Tests applied as shown in
Figures: 4-12 & 4-13
Test applied as shown in
Figure: 4-13
2
600
7
5s
3
600
(Note 1)
2.2A or just below the interrupt value of
the current interrupting device (Note 2)
30
min.
30
min.
30
min.
4
(Note1)
(Note 2)
5
120
25
Equipment
Under Test
Telecommunication
Network Connection
Points
Secondary Protector
Simulator or
Wiring Station
Timed
Switch
Current
Limiting
Resistor
Variable
Voltage
Source
Equipment
Earth
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PDF描述
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P1300EARP2 SIDAC|160V V(BO) MAX|800MA I(S)|TO-92VAR
P1300EB SIDAC|160V V(BO) MAX|800MA I(S)|TO-92VAR
P1300EBRP1 SIDAC|160V V(BO) MAX|800MA I(S)|TO-92VAR
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參數(shù)描述
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