藍(lán)菲光學(xué)光源測量系統(tǒng)對(duì)環(huán)境要求

發(fā)布時(shí)間:2/2/2015 | 305 次閱讀

  藍(lán)菲光學(xué)(labsphere)近日推出illumia®和illumia®pro系列l(wèi)ed和光源測量系統(tǒng)。這款新系統(tǒng)在測量led,led陣列和固態(tài)及傳統(tǒng)照明產(chǎn)品的熱學(xué)、光學(xué)和電學(xué)特性上有很大的靈活性。

  illumia系統(tǒng)有四種光譜儀,積分球尺寸從25厘米至195厘米可供選擇,較高的可定制化程度能夠滿足各種預(yù)算或應(yīng)用需求。光譜儀較寬的動(dòng)態(tài)范圍意味著單一的積分球系統(tǒng)即可測量寬范圍的照明亮度。

  illumia系統(tǒng)可以測量總光譜通量、光通量、輻射通量、色度、色溫和顯色性、峰值波長、主波長,電流,電壓和光效。再加上tec溫度控制和監(jiān)測部件,illumia pro可以測量led所有的熱學(xué)、光學(xué)和電學(xué)特性。

 

illumia系統(tǒng)

  藍(lán)菲光學(xué)的mtrx-spec軟件能夠在幾毫秒之內(nèi)得到符合全球標(biāo)準(zhǔn)和測量幾何要求的光譜結(jié)果。藍(lán)菲光學(xué)的符合nist溯源、獲得nvlap®認(rèn)證的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)燈允許制造商為迎合全球市場作準(zhǔn)備而在公司內(nèi)部進(jìn)行熱學(xué)、光學(xué)、電學(xué)特性測試,加快從設(shè)計(jì)到投放市場的產(chǎn)品開發(fā)速度。

  所有系統(tǒng)都使用藍(lán)菲光學(xué)spectraflect®高反射率漫反射涂層,提供近乎完美的漫反射以實(shí)現(xiàn)最佳的測量精度。附加的配件可以集成進(jìn)illmia系統(tǒng)來滿足客戶所需特定的應(yīng)用結(jié)果。

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