參數(shù)資料
型號： MX29F200BTI-70
廠商： MACRONIX INTERNATIONAL CO LTD
元件分類： DRAM
英文描述： 2M-BIT [256Kx8/128Kx16] CMOS FLASH MEMORY
中文描述： 128K X 16 FLASH 5V PROM, 70 ns, PDSO48
封裝： 12 X 20 MM, PLASTIC, MO-142, TSOP1-48
文件頁數(shù)： 24/46頁
文件大?。?/td> 720K
代理商： MX29F200BTI-70
24
P/N:PM0549
REV. 1.3 , DEC. 24, 2001
MX29F200T/B
SWITCHING TEST CIRCUITS
SWITCHING TEST WAVEFORMS(I) for 29F200T/B-70, 29F200T/B-90, 29F200T/B-12
SWITCHING TEST WAVEFORMS(II) for 29F200T/B-55
DEVICE UNDER
TEST
DIODES=IN3064
OR EQUIVALENT
CL
1.2K ohm
1.6K ohm
+5V
CL=100pF Including jig capacitance for 70ns max.
CL= 30pF Including jig capacitance for 55ns max.
2.0V
2.0V
0.8V
0.8V
TEST POINTS
2.4V
0.45V
AC TESTING: Inputs are driven at 2.4V for a logic "1" and 0.45V for a logic "0".
Input pulse rise and fall times are < 10ns.
OUTPUT
INPUT
1.5V
1.5V
TEST POINTS
3.0V
0V
AC TESTING: Inputs are driven at 3.0V for a logic "1" and 0V for a logic "0".
Input pulse rise and fall times are < 5ns.
OUTPUT
INPUT
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PDF描述
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參數(shù)描述
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