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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | MS80C51T-16D |
| 廠商： | ATMEL CORP |
| 元件分類： | 微控制器/微處理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, MROM, 16 MHz, MICROCONTROLLER, PQCC44 |
| 封裝： | PLASTIC, LCC-44 |
| 文件頁數(shù)： | 215/431頁 |
| 文件大?。?/td> | 5137K |
| 代理商： | MS80C51T-16D |
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292
7682C–AUTO–04/08
AT90CAN32/64/128
22. JTAG Interface and On-chip Debug System
22.1
Features
JTAG (IEEE std. 1149.1 Compliant) Interface
Boundary-scan Capabilities According to the IEEE std. 1149.1 (JTAG) Standard
Debugger Access to:
– All Internal Peripheral Units
– Internal and External RAM
– The Internal Register File
– Program Counter
– EEPROM and Flash Memories
Extensive On-chip Debug Support for Break Conditions, Including
– AVR Break Instruction
– Break on Change of Program Memory Flow
– Single Step Break
– Program Memory Break Points on Single Address or Address Range
– Data Memory Break Points on Single Address or Address Range
Programming of Flash, EEPROM, Fuses, and Lock Bits through the JTAG Interface
On-chip Debugging Supported by AVR Studio
22.2
Overview
The AVR IEEE std. 1149.1 compliant JTAG interface can be used for:
Testing PCBs by using the JTAG Boundary-scan capability
Programming the non-volatile memories, Fuses and Lock bits
On-chip debugging
A brief description is given in the following sections. Detailed descriptions for Programming via
the JTAG interface, and using the Boundary-scan Chain can be found in the sections “JTAG
Programming Overview” on page 351 and “Boundary-scan IEEE 1149.1 (JTAG)” on page 299,
respectively. The On-chip Debug support is considered being private JTAG instructions, and dis-
tributed within ATMEL and to selected third party vendors only.
Figure 22-1 shows a block diagram of the JTAG interface and the On-chip Debug system. The
TAP Controller is a state machine controlled by the TCK and TMS signals. The TAP Controller
selects either the JTAG Instruction Register or one of several Data Registers as the scan chain
(Shift Register) between the TDI – input and TDO – output. The Instruction Register holds JTAG
instructions controlling the behavior of a Data Register.
The ID-Register (IDentifier Register), Bypass Register, and the Boundary-scan Chain are the
Data Registers used for board-level testing. The JTAG Programming Interface (actually consist-
ing of several physical and virtual Data Registers) is used for serial programming via the JTAG
interface. The Internal Scan Chain and Break Point Scan Chain are used for On-chip debugging
only.
22.3
Test Access Port – TAP
The JTAG interface is accessed through four of the AVR’s pins. In JTAG terminology, these pins
constitute the Test Access Port – TAP. These pins are:
TMS: Test mode select. This pin is used for navigating through the TAP-controller state
machine.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| MR83C154TXXX-12/883D | 8-BIT, MROM, 12 MHz, MICROCONTROLLER, CQCC44 |
| MD80C32-12SHXXX:D | 8-BIT, 12 MHz, MICROCONTROLLER, CDIP40 |
| MR80C52CXXX-16:D | 8-BIT, MROM, 16 MHz, MICROCONTROLLER, CQCC44 |
| MC80C32E-25P883 | 8-BIT, 25 MHz, MICROCONTROLLER, CDIP40 |
| MQ80C52EXXX-20/883:RD | 8-BIT, MROM, 20 MHz, MICROCONTROLLER, CQFP44 |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| MS8100 | 制造商:MCC 制造商全稱:Micro Commercial Components 功能描述:8 Amp Schottky Barrier Rectifier 20 to 100 Volts |
| MS8100.D | 制造商:Colibrys SA 功能描述:MEMS CAPACITIVE ACCELEROMETERS - Trays |
| MS8104160 | 制造商:OKI 制造商全稱:OKI electronic componets 功能描述:(262,214-word x 8-Bits) x 2 Dual FIFO |
| MS8104160A | 制造商:OKI 制造商全稱:OKI electronic componets 功能描述:Dual FIFO (262,214 Words 】 8 Bits) 】 2 |
| MS8104160A-XXTB | 制造商:OKI 制造商全稱:OKI electronic componets 功能描述:Dual FIFO (262,214 Words 】 8 Bits) 】 2 |
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