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參數(shù)資料
| 型號： | MD80C32-36/883D |
| 廠商： | TEMIC SEMICONDUCTORS |
| 元件分類： | 微控制器/微處理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, 36 MHz, MICROCONTROLLER, CDIP40 |
| 文件頁數(shù)： | 149/362頁 |
| 文件大?。?/td> | 6147K |
| 代理商： | MD80C32-36/883D |
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232
2570N–AVR–05/11
ATmega325/3250/645/6450
25.6.4
Scanning the Analog Comparator
The relevant Comparator signals regarding Boundary-scan are shown in Figure 25-7. The
Boundary-scan cell from Figure 25-8 is attached to each of these signals. The signals are
described in Table 25-4.
The Comparator need not be used for pure connectivity testing, since all analog inputs are
shared with a digital port pin as well.
Figure 25-7. Analog Comparator
Figure 25-8. General Boundary-scan cell Used for Signals for Comparator and ADC
ACBG
BANDGAP
REFERENCE
ADC MULTIPLEXER
OUTPUT
ACME
AC_IDLE
ACO
ADCEN
ACD
0
1
DQ
G
0
1
From
Previous
Cell
ClockDR
UpdateDR
ShiftDR
To
Next
Cell
EXTEST
To Analog Circuitry/
To Digital Logic
From Digital Logic/
From Analog Ciruitry
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