參數(shù)資料
型號： MC9S12DJ128EVFU
廠商： MOTOROLA INC
元件分類： 微控制器/微處理器
英文描述： 16-BIT, FLASH, 25 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP80
封裝： QFP-80
文件頁數(shù)： 17/138頁
文件大?。?/td> 2093K
代理商： MC9S12DJ128EVFU
MC9S12DT128 Device User Guide — V02.11
113
A.3.2 NVM Reliability
The reliability of the NVM blocks is guaranteed by stress test during qualification, constant process
monitors and burn-in to screen early life failures.
The failure rates for data retention and program/erase cycling are specified at the operating conditions
noted.
The program/erase cycle count on the sector is incremented every time a sector or mass erase event is
executed.
Table A-12 NVM Reliability Characteristics
Conditions are shown in Table A-4 unless otherwise noted
Num C
Rating
Symbol
Min
Typ
Max
Unit
1C
Data Retention at an average junction temperature of
TJavg = 70°C
tNVMRET
15
Years
2
C Flash number of Program/Erase cycles
nFLPE
10,000
Cycles
3C
EEPROM number of Program/Erase cycles
(–40
°C
≤ T
J ≤ 0°C)
nEEPE
10,000
Cycles
4C
EEPROM number of Program/Erase cycles
(0
°C < T
J ≤ 140°C)
nEEPE
100,000
Cycles
相關PDF資料
PDF描述
MC9S12DT128EVPV 16-BIT, FLASH, 25 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP112
MC9S12DG128MFU 16-BIT, FLASH, 25 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP80
MC9S12DG128VPV 16-BIT, FLASH, 25 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP112
MC9S12DB128MFU 16-BIT, FLASH, 25 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP80
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相關代理商/技術參數(shù)
參數(shù)描述
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