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參數(shù)資料
| 型號： | MC9S08SG32WTLR |
| 廠商： | FREESCALE SEMICONDUCTOR INC |
| 元件分類： | 微控制器/微處理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, FLASH, 40 MHz, MICROCONTROLLER, PDSO28 |
| 封裝： | ROHS COMPLIANT, TSSOP-28 |
| 文件頁數(shù)： | 249/328頁 |
| 文件大?。?/td> | 3232K |
| 代理商： | MC9S08SG32WTLR |
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Appendix A Electrical Characteristics
MC9S08SG32 Data Sheet, Rev. 7
322
Freescale Semiconductor
A.14
EMC Performance
Electromagnetic compatibility (EMC) performance is highly dependant on the environment in which the
MCU resides. Board design and layout, circuit topology choices, location and characteristics of external
components as well as MCU software operation all play a signicant role in EMC performance. The
system designer should consult Freescale applications notes such as AN2321, AN1050, AN1263,
AN2764, and AN1259 for advice and guidance specically targeted at optimizing EMC performance.
A.14.1
Radiated Emissions
Microcontroller radiated RF emissions are measured from 150 kHz to 1 GHz using the TEM/GTEM Cell
method in accordance with the IEC 61967-2 and SAE J1752/3 standards. The measurement is performed
with the microcontroller installed on a custom EMC evaluation board while running specialized EMC test
software. The radiated emissions from the microcontroller are measured in a TEM cell in two package
orientations (North and East).
The maximum radiated RF emissions of the tested conguration in all orientations are less than or equal
to the reported emissions levels.
Table A-17. Radiated Emissions, Electric Field
Parameter
Symbol
Conditions
Frequency
fOSC/fBUS
Level1
(Max)
1 Data based on qualication test results.
Unit
Temp
Rated
Standar
d
AEC
Grade
0
Radiated emissions,
electric eld
VRE_TEM
VDD = 5 V
TA = +25
oC
package type
28 TSSOP
0.15 – 50 MHz
4 MHz crystal
20 MHz bus
12
dB
μV
50 – 150 MHz
12
150 – 500 MHz
6
500 – 1000 MHz
–8
IEC Level2
2 IEC Level Maximums: N ≤ 12dBμV, L ≤ 24dBμV, I ≤ 36dBμV
N—
SAE Level3
3 SAE Level Maximums: 1 ≤ 10dBμV, 2 ≤ 20dBμV, 3 ≤ 30dBμV, 4 ≤ 40dBμV
2—
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