參數(shù)資料
型號(hào)： MAX19527EXE+T
廠商： Maxim Integrated Products
文件頁(yè)數(shù)： 15/30頁(yè)
文件大?。?/td> 0K
描述： IC ADC 12BIT 8CH 50MSPS 144CTBGA
應(yīng)用說(shuō)明： Ultrasound Imaging Systems Application Note
產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： Lead (SnPb) Finish for COTS
Obsolescence Mitigation Program
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 1
位數(shù)： 12
采樣率（每秒）： 50M
數(shù)據(jù)接口： 串行，SPI?
轉(zhuǎn)換器數(shù)目： 8
功率耗散（最大）： 2.96W
電壓電源： 模擬和數(shù)字
工作溫度： -40°C ~ 85°C
安裝類(lèi)型： 表面貼裝
封裝/外殼： 144-TFBGA
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 144-CTFBGA
包裝： 帶卷 (TR)
輸入數(shù)目和類(lèi)型： 16 個(gè)單端，單極；8 個(gè)差分，單極
Ultra-Low-Power, Octal, 12-Bit, 50Msps,
1.8V ADC with Serial LVDS Outputs
MAX19527
22
LVDS Output Driver Level Register (02h)
Use the LVDS Output Driver Level register (02h, Table 9)
to test the LVDS output driver static logic levels (OUT_,
CLKOUT_, FRAME_) and to set the output common-
mode voltage for all LVDS outputs.
To test the LVDS outputs at static logic levels, the
TEST_FRAME_LEVEL[1:0], TEST_CLKOUT_LEVEL[1:0],
and TEST_DATA_LEVEL[1:0] bits (02h[5:0]) are used.
The LSB of each, when set to logic 0 (default), disables
the static output level test (normal data output). When the
LSB of each is set to logic 1, the static output level test
is enabled. The MSB of each is then used to determine
if the static output is logic 1 or 0 (matches the logic state
of the MSB). For detailed programming information, see
Tables 10, 11, and 12.
To set the LVDS output common-mode voltage, use the
LVDS_CM[1:0] bits (02h[7:6]). By default, LVDS_CM[1:0]
is set to 00, which corresponds to a default setting of
1.2V for the LVDS output common-mode voltage. Table
13 contains complete programming details.
Figure 10. Serial LVDS Output Clock (CLKOUT) Phase Adjustment
Table 7. Test Pattern Programming
X = Don’t care.
VFRAME
VCLKOUT
VOUT_
D0
D1
D2
D3
CLKOUT_PHASE[1:0] = 00 (DEFAULT)
VFRAME
VCLKOUT
VOUT_
D0
D1
D2
D3
CLKOUT_PHASE[1:0] = 01
VFRAME
VCLKOUT
VOUT_
D0
D1
D2
D3
CLKOUT_PHASE[1:0] = 10
VFRAME
VCLKOUT
VOUT_
D0
D1
D2
D3
CLKOUT_PHASE[1:0] = 11
VFRAME = (VFRAME+ - VFRAME-)
VCLKOUT = (VCLKOUT+ - VCLKOUT-)
VOUT_ = (VOUT_+ - VOUT_-)
TEST_DATA
TEST_PATTERN[2:0]
TEST PATTERN FORMAT
0
X
Disabled, normal data output (default)
1
0
Data skew (010101010101), repeats every frame
1
0
1
Data sync (111111000000), repeats every frame
1
0
1
0
Custom test pattern, repeats every two frames
1
0
1
Ramping pattern from 0 to 4095 (repeats)
1
0
Pseudo-random data pattern, short sequence (29)
1
0
1
Pseudo-random data pattern, long sequence (223)
1
0
Not used
1
Not used
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PDF描述
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