參數(shù)資料
型號: LTC1487CS8#PBF
廠商: Linear Technology
文件頁數(shù): 5/8頁
文件大小: 0K
描述: IC TXRX RS485 LOW EMI LOPWR8SOIC
標準包裝: 100
類型: 收發(fā)器
驅(qū)動器/接收器數(shù): 1/1
規(guī)程: RS422,RS485
電源電壓: 4.75 V ~ 5.25 V
安裝類型: 表面貼裝
封裝/外殼: 8-SOIC(0.154",3.90mm 寬)
供應商設(shè)備封裝: 8-SOIC
包裝: 管件
產(chǎn)品目錄頁面: 1354 (CN2011-ZH PDF)
5
LTC1487
sn1487 1487fs
DI (Pin 4): Driver Input. If the driver outputs are enabled
(DE HIGH) then a LOW on DI forces the outputs A LOW and
B HIGH. A HIGH on DI with the driver outputs enabled will
force A HIGH and B LOW.
GND (Pin 5): Ground.
A (Pin 6): Driver Output/Receiver Input.
B (Pin 7): Driver Output/Receiver Input.
VCC (Pin 8): Positive Supply. 4.75V < VCC < 5.25V.
PIN FUNCTIONS
UU
U
RO (Pin 1): Receiver Output. If the receiver output is
enabled (RE LOW), and A > B by 200mV, RO will be HIGH.
If A < B by 200mV, then RO will be LOW.
RE (Pin 2): Receiver Output Enable. A LOW enables the
receiver output, RO. A HIGH input forces the receiver
output into a high impedance state.
DE (Pin 3): Driver Outputs Enable. A HIGH on DE enables
the driver output. A and B and the chip will function as a line
driver. A LOW input will force the driver outputs into a high
impedance state and the chip will function as a line
receiver. If RE is HIGH and DE is LOW, the part will enter
a low power (1
A) shutdown state.
Figure 3. Driver/Receiver Timing Test Circuit
Figure 4. Driver Timing Test Load
OUTPUT
UNDER TEST
CL
S1
S2
VCC
500
LTC1487 F04
3V
DE
A
B
DI
RDIFF
CL1
CL2
RO
15pF
A
B
RE
LTC1487 F03
Figure 1. Driver DC Test Load
Figure 2. Receiver Timing Test Load
VOD
A
B
R
VOC
LTC1487 F01
RECEIVER
OUTPUT
CRL
1k
S1
S2
TEST POINT
VCC
1k
LTC1487 F02
TEST CIRCUITS
LTC1487 Transmitting
INPUTS
OUTPUTS
RE
DE
DI
B
A
X
110
1
X
101
0
00
X
Z
1
0
X
Z*
*Shutdown mode
LTC1487 Receiving
INPUTS
OUTPUTS
RE
DE
A – B
RO
00
≥0.2V
1
00
≤–0.2V
0
Inputs Open
1
10
X
Z*
*Shutdown mode
FU CTIO TABLES
UU
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