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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | lS80C88 |
| 廠商： | Intersil Corporation |
| 元件分類： | 16位微控制器 |
| 英文描述： | CMOS 8/16-Bit Microprocessor |
| 中文描述： | 16位產(chǎn)品的CMOS微處理器 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 25/32頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 246K |
| 代理商： | LS80C88 |
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3-25
AC Test Circuit
AC Testing Input, Output Waveform
FIGURE 30. RESET TIMING
Waveforms
(Continued)
V
CC
CLK
RESET
≥
50
μ
s
≥
4 CLK CYCLES
(7) TCLDX1
(6) TDVCL
OUTPUT FROM
DEVICE UNDER TEST
TEST
POINT
CL (NOTE)
NOTE: Includes stay and jig capacitance.
INPUT
V
IH
+ 20% V
IH
V
IL
- 50% V
IL
OUTPUT
V
OH
V
OL
1.5V
1.5V
AC Testing: All input signals (other than CLK) must switch between
V
ILMAX
-50% V
IL
and V
IHMIN
+20% V
IH
. CLK must
switch between 0.4V and V
CC
-0.4V. Input rise and fall
times are driven at 1ns/V.
Burn-In Circuits
MD80C88 (CERDIP)
33
34
35
36
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38
40
32
31
30
29
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28
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13
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
14
15
16
17
18
19
20
39
GND
GND
NMI
INTR
CLK
GND
1
RIO
RIO
RIO
RIO
RIO
RIO
RIO
RIO
RIO
RIO
RIO
RC
RI
RI
VCC/2
VCL
VCL
VIL
GND
VCC/2
VCC/2
RI
VCC/2
VCC/2
VCC/2
VCL
V
CC
GND
RIO
RO
RO
RO
VCC/2
VCC/2
VCC/2
VCC/2
VCC/2
GND
VCL
NODE
FROM
PROGRAM
CARD
GND
GND
VCL
GND
GND
VCL
GND
GND
GND
VCL
VCL
VCL
OPEN
OPEN
OPEN
OPEN
GND
GND
F0
RO
RO
RO
RO
RO
RO
RO
RO
RO
RO
A
A14
A13
A12
A11
A10
A9
A8
AD7
AD6
AD5
AD4
AD3
AD2
AD1
AD0
V
CC
A15
QS2
TEST
READY
RESET
A16
A17
A18
A19
BHE
MX
RD
RQ0
RQ1
LOCK
S2
S1
S0
QS0
C
80C88
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
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參數(shù)描述 |
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