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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | LC5256MB-4F256C |
| 廠商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 44/99頁(yè) |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC XPLD 256MC 4NS 256FPBGA |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 90 |
| 系列： | ispXPLD® 5000MB |
| 可編程類(lèi)型： | 系統(tǒng)內(nèi)可編程 |
| 最大延遲時(shí)間 tpd(1)： | 4.0ns |
| 電壓電源 - 內(nèi)部： | 2.3 V ~ 2.7 V |
| 邏輯元件/邏輯塊數(shù)目： | 8 |
| 宏單元數(shù)： | 256 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 141 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 90°C |
| 安裝類(lèi)型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 256-BGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 256-FPBGA（17x17） |
| 包裝： | 托盤(pán) |
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Lattice Semiconductor
ispXPLD 5000MX Family Data Sheet
45
Boundary Scan Timing Specifications
Over Recommended Operating Conditions
Parameter
Description
Min
Max
Units
tBTCP
TCK [BSCAN] clock pulse width
40
—
ns
tBTCPH
TCK [BSCAN] clock pulse width high
20
—
ns
tBTCPL
TCK [BSCAN] clock pulse width low
20
—
ns
tBTS
TCK [BSCAN] setup time
8
—
ns
tBTH
TCK [BSCAN] hold time
10
—
ns
tBTRF
TCK [BSCAN] rise/fall time
50
—
mV/ns
tBTCO
TAP controller falling edge of clock to valid output
—
10
ns
tBTCODIS
TAP controller falling edge of clock to valid disable
—
10
ns
tBTCOEN
TAP controller falling edge of clock to valid enable
—
10
ns
tBTCRS
BSCAN test capture register setup time
8
—
ns
tBTCRH
BSCAN test capture register hold time
10
—
ns
tBUTCO
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid output
—
25
ns
tBTUODIS
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid disable
—
25
ns
tBTUPOEN
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid enable
—
25
ns
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