參數(shù)資料
型號： LC4256V-5F256AC
文件頁數(shù)： 29/57頁
文件大小： 1078K
代理商： LC4256V-5F256AC
Lattice Semiconductor
ispMACH 4000V/B/C Family Data Sheet
29
Switching Test Conditions
Figure 11 shows the output test load that is used for AC testing. The speci
fi
c values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 9.
Figure 11. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 9. Test Fixture Required Components
Test Condition
R
1
R
2
C
L
1
Timing Ref.
V
CCO
LVCMOS I/O, (L -> H, H -> L)
106
106
35pF
LVCMOS 3.3 = 1.5V
LVCMOS 2.5 = V
CCO
/2
LVCMOS 1.8 = V
CCO
/2
1.5V
1.5V
V
OH
- 0.3
V
OL
+ 0.3
LVCMOS 3.3 = 3.0V
LVCMOS 2.5 = 2.3V
LVCMOS 1.8 = 1.65V
3.0V
3.0V
3.0V
3.0V
LVCMOS I/O (Z -> H)
LVCMOS I/O (Z -> L)
LVCMOS I/O (H -> Z)
LVCMOS I/O (L -> Z)
1. C
L
includes test
fi
xtures and probe capacitance.
∞
106
35pF
35pF
5pF
5pF
106
∞
∞
106
106
∞
V
CCO
R1
R2
CL
DUT
Test
Point
0213A/ispm4k
相關PDF資料
PDF描述
LC4256V-5F256AI
LC4256V-5T100C
LC4256V-5T100I
LC4256V-5T176C
LC4256V-5T176I
相關代理商/技術參數(shù)
參數(shù)描述
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LC4256V-5F256BC1 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High Density PLDs
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