參數(shù)資料
型號(hào): LC4256C-5F256AI
文件頁(yè)數(shù): 29/57頁(yè)
文件大小: 1078K
代理商: LC4256C-5F256AI
Lattice Semiconductor
ispMACH 4000V/B/C Family Data Sheet
29
Switching Test Conditions
Figure 11 shows the output test load that is used for AC testing. The speci
fi
c values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 9.
Figure 11. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 9. Test Fixture Required Components
Test Condition
R
1
R
2
C
L
1
Timing Ref.
V
CCO
LVCMOS I/O, (L -> H, H -> L)
106
106
35pF
LVCMOS 3.3 = 1.5V
LVCMOS 2.5 = V
CCO
/2
LVCMOS 1.8 = V
CCO
/2
1.5V
1.5V
V
OH
- 0.3
V
OL
+ 0.3
LVCMOS 3.3 = 3.0V
LVCMOS 2.5 = 2.3V
LVCMOS 1.8 = 1.65V
3.0V
3.0V
3.0V
3.0V
LVCMOS I/O (Z -> H)
LVCMOS I/O (Z -> L)
LVCMOS I/O (H -> Z)
LVCMOS I/O (L -> Z)
1. C
L
includes test
fi
xtures and probe capacitance.
106
35pF
35pF
5pF
5pF
106
106
106
V
CCO
R1
R2
CL
DUT
Test
Point
0213A/ispm4k
相關(guān)PDF資料
PDF描述
LC4256C-5T100C
LC4256C-5T100I
LC4256C-5T176C
LC4384B-10F256I
LC4384B-10T176I
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù)
參數(shù)描述
LC4256C-5F256AI1 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High Density PLDs
LC4256C-5F256BC 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 PROGRAMMABLE SUPER FAST HI DENSITY PLD RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲(chǔ)類型:EEPROM 大電池?cái)?shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時(shí)間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100
LC4256C-5F256BC1 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High Density PLDs
LC4256C-5F256BI 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 PROGRAMMABLE SUPER FAST HI DENSITY PLD RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲(chǔ)類型:EEPROM 大電池?cái)?shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時(shí)間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100
LC4256C-5F256BI1 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High Density PLDs