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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | LC4128B-27T100C |
| 廠商： | LATTICE SEMICONDUCTOR CORP |
| 元件分類(lèi)： | PLD |
| 英文描述： | 3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High Density PLDs |
| 中文描述： | EE PLD, 2.7 ns, PQFP100 |
| 封裝： | TQFP-100 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 37/74頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 255K |
| 代理商： | LC4128B-27T100C |
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Lattice Semiconductor
ispMACH 4000V/B/C/Z Family Data Sheet
37
Switching Test Conditions
Figure 12 shows the output test load that is used for AC testing. The speci
fi
c values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 11.
Figure 12. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 11. Test Fixture Required Components
Test Condition
R
1
R
2
C
L
1
Timing Ref.
V
CCO
LVCMOS I/O, (L -> H, H -> L)
106
106
35pF
LVCMOS 3.3 = 1.5V
LVCMOS 2.5 = V
CCO
/2
LVCMOS 1.8 = V
CCO
/2
1.5V
1.5V
V
OH
- 0.3
V
OL
+ 0.3
LVCMOS 3.3 = 3.0V
LVCMOS 2.5 = 2.3V
LVCMOS 1.8 = 1.65V
3.0V
3.0V
3.0V
3.0V
LVCMOS I/O (Z -> H)
LVCMOS I/O (Z -> L)
LVCMOS I/O (H -> Z)
LVCMOS I/O (L -> Z)
1. C
L
includes test
fi
xtures and probe capacitance.
∞
106
35pF
35pF
5pF
5pF
106
∞
∞
106
106
∞
V
CCO
R1
R2
CL
DUT
Test
Point
0213A/ispm4k
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PDF描述 |
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