參數(shù)資料
型號: ISL54400EVAL1Z
廠商: Intersil
文件頁數(shù): 14/15頁
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描述: EVALUATION KIT FOR ISL54400
標(biāo)準(zhǔn)包裝: 1
主要目的: 接口,模擬和數(shù)字式開關(guān)
嵌入式:
已用 IC / 零件: ISL54400
主要屬性: 2 x SPDT 音頻和 USB 開關(guān)
次要屬性: 2.7 V ~ 3.6 V 電源
已供物品: 4 個板
8
FN6240.3
July 12, 2006
Test Circuits and Waveforms
Logic input waveform is inverted for switches that have the opposite
logic sense.
FIGURE 1A. MEASUREMENT POINTS
Repeat test for all switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 1B. TEST CIRCUIT
FIGURE 1. SWITCHING TIMES (ISL54402 ONLY)
FIGURE 2A. MEASUREMENT POINTS
Repeat test for all switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 2B. TEST CIRCUIT
FIGURE 2. BREAK-BEFORE-MAKE TIME (ISL54402 ONLY)
FIGURE 3. RON TEST CIRCUIT
FIGURE 4. AUDIO CROSSTALK TEST CIRCUIT
50%
tr < 20ns
tf < 20ns
tOFF
90%
VINH
0V
VNO
VINL
tON
LOGIC
INPUT
SWITCH
INPUT
SWITCH
OUTPUT
90%
VOUT
V
OUT
V
(NO or NC)
R
L
R
L
R
ON
()
+
------------------------------
=
SWITCH
INPUT
CONTROL
INPUT
VOUT
RL
CL
COM
NO or NC
IN
300
35pF
GND
VDD
C
90%
VINH
VINL
tD
LOGIC
INPUT
SWITCH
OUTPUT
0V
VOUT
LOGIC
INPUT
IN
COM
RL
CL
VOUT
35pF
300
NO
NC
VDD
GND
VNX
C
VDD
C
Dx or L or R or Nx
COM
IN
GND
VNX
V1
RON = V1/40mA
40mA
Repeat test for all switches. Note: COM designation in diagram
refers to: D-/L, D+/R, COM1, and COM2.
VBUS or VIN
0V or VDD
ANALYZER
VDD
C
L or R or NC
SIGNAL
GENERATOR
RL
GND
IN1
COM
32
N.C.
COM
R or L or NC
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded. Repeat test for all switches. COM designation in
diagram refers to: D-/L, D+/R, COM1, and COM2.
ISL54400, ISL54401, ISL54402
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