FN6819.1 February 4, 2010 FIGURE 4. CAPACITANCE TEST CIRCUIT FIGURE 5. CROSSTALK TEST CIRCUIT FIGURE 6A. MEASUREMENT POINTS FIGURE 6B. TEST CIRC" />
參數(shù)資料
型號： ISL54220IUZ-T
廠商： Intersil
文件頁數(shù)： 17/18頁
文件大小： 0K
描述： IC USB SWITCH DUAL SPDT 10MSOP
標準包裝： 2,500
功能： USB 開關
電路： 2 x SPDT
導通狀態(tài)電阻： 8 歐姆
電壓電源： 單電源
電壓 - 電源，單路/雙路(±)： 2.7 V ~ 5.5 V
電流 - 電源： 9nA
工作溫度： -40°C ~ 85°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 10-TFSOP，10-MSOP（0.118"，3.00mm 寬）
供應商設備封裝： 10-MSOP
包裝： 帶卷 (TR)
8
FN6819.1
February 4, 2010
FIGURE 4. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 5. CROSSTALK TEST CIRCUIT
FIGURE 6A. MEASUREMENT POINTS
FIGURE 6B. TEST CIRCUIT
FIGURE 6. SKEW TEST
Test Circuits and Waveforms (Continued)
VDD
C
GND
HSDxx
Dx
SEL
IMPEDANCE
ANALYZER
0V OR
Repeat test for all switches.
OE
VDD
ANALYZER
VDD
C
HSD1x
SIGNAL
GENERATOR
RL
GND
SEL
Dx
50
Ω
NC
Dx
HSD2x
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded. Repeat test for all switches.
OE
VIN
DIN+
DIN-
OUT+
OUT-
50%
90%
10%
90%
50%
90%
50%
tri
tfi
tro
tf0
tskew_i
tskew_o
OUT+
CL
COMD1
D2
GND
VDD
C
D1
COMD2
CL
OUT-
DIN+
DIN-
|tro - tri| Delay Due to Switch for Rising Input and Rising Output Signals.
|tfo - tfi| Delay Due to Switch for Falling Input and Falling Output Signals.
|tskew_0| Change in Skew through the Switch for Output Signals.
|tskew_i| Change in Skew through the Switch for Input Signals.
15.8
Ω
15.8
Ω
143
Ω
143
Ω
45
Ω
45
Ω
SEL
VIN
OE
ISL54220
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PDF描述
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