8 FN6515.3 October 28, 2010 FIGURE 5. CAPACITANCE TEST CIRCUIT FIGURE 6. AUDIO CROSSTALK TEST CIRCUIT FIGURE 7A. MEASUREMENT POINTS F" />
參數(shù)資料
型號: ISL54206AIRTZ-T
廠商: Intersil
文件頁數(shù): 19/20頁
文件大?。?/td> 0K
描述: IC USB SWITCH DUAL SPDT 10TDFN
標準包裝: 6,000
功能: USB 開關(guān)
電路: 2 x SPDT
導(dǎo)通狀態(tài)電阻: 17.7 歐姆
電壓電源: 單電源
電壓 - 電源,單路/雙路(±): 2.7 V ~ 3.6 V
電流 - 電源: 8µA
工作溫度: -40°C ~ 85°C
安裝類型: 表面貼裝
封裝/外殼: 10-VFDFN 裸露焊盤
供應(yīng)商設(shè)備封裝: 10-TDFN/MLP(3x3)
包裝: 帶卷 (TR)
ISL54206A
8
FN6515.3
October 28, 2010
FIGURE 5. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 6. AUDIO CROSSTALK TEST CIRCUIT
FIGURE 7A. MEASUREMENT POINTS
FIGURE 7B. TEST CIRCUIT
FIGURE 7. SKEW TEST
Test Circuits and Waveforms (Continued)
VDD
C
GND
AUDIO OR USB
COMx
IN
IMPEDANCE
ANALYZER
0V or
Repeat test for all switches.
CTRL
VDD
0V
ANALYZER
VDD
C
L OR R
SIGNAL
GENERATOR
RL
GND
IN
COMx
32Ω
NC
COMx
R OR L
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded. Repeat test for all switches.
CTRL
DIN+
DIN-
OUT+
OUT-
50%
90%
10%
90%
50%
90%
50%
tri
tfi
tro
tf0
tskew_i
tskew_o
OUT+
CL
COM-
D+
GND
VDD
C
D-
COM+
CL
OUT-
DIN+
DIN-
|tro - tri| Delay Due to Switch for Rising Input and Rising Outpu
|tfo - tfi| Delay Due to Switch for Falling Input and Falling Outpu
|tskew_0| Change in Skew through the Switch for Output Signa
|tskew_i| Change in Skew through the Switch for Input Signals
15.8Ω
143Ω
45Ω
CTRL
IN
VDD
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PDF描述
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ISL54206IRZ-T 功能描述:IC SWITCH MP3/USB2.0 HS 10-TDFN RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 接口 - 模擬開關(guān),多路復(fù)用器,多路分解器 系列:- 產(chǎn)品培訓模塊:Obsolescence Mitigation Program 標準包裝:2,500 系列:- 功能:- 電路:2 x SPST 導(dǎo)通狀態(tài)電阻:20 歐姆 電壓電源:單電源 電壓 - 電源,單路/雙路(±):3 V ~ 5.5 V 電流 - 電源:4.1mA 工作溫度:-40°C ~ 85°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:10-WFDFN 裸露焊盤 供應(yīng)商設(shè)備封裝:10-TDFN-EP(3x3) 包裝:帶卷 (TR)
ISL54207 制造商:INTERSIL 制造商全稱:Intersil Corporation 功能描述:Low Voltage, Dual SPDT, USB/CVBS/ Audio Switches, with Negative Signal Capability