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參數(shù)資料
| 型號： | IDT79RC32K438-200BBI |
| 廠商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件頁數(shù)： | 30/59頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC MPU 32BIT CORE 200MHZ 416-BGA |
| 標準包裝： | 40 |
| 系列： | Interprise™ |
| 處理器類型： | MIPS32 32-位 |
| 速度： | 200MHz |
| 電壓： | 1.2V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 416-BGA |
| 供應商設備封裝： | 416-PBGA（27x27） |
| 包裝： | 托盤 |
| 其它名稱： | 79RC32K438-200BBI |
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May 25, 2004
IDT 79RC32438
Figure 22 JTAG AC Timing Waveform
The IEEE 1149.1 specification requires that the JTAG and EJTAG TAP controllers be reset at power-up whether or not the interfaces are used for
a boundary scan or a probe. Reset can occur through a pull-down resistor on JTAG_TRST_N if the probe is not connected. However, on-chip pull-up
resistors are implemented on the RC32438 due to an IEEE 1149.1 requirement. Having on-chip pull-up and external pull-down resistors for the
JTAG_TRST_N signal requires special care in the design to ensure that a valid logical level is provided to JTAG_TRST_N, such as using a small
external pull-down resistor to ensure this level overrides the on-chip pull-up. An alternative is to use an active power-up reset circuit for
JTAG_TRST_N, which drives JTAG_TRST_N low only at power-up and then holds JTAG_TRST_N high afterwards with a pull-up resistor.
Figure 23 shows the electrical connection of the EJTAG probe target system connector.
Figure 23 Target System Electrical EJTAG Connection
Tpw_16d
Tdz_16c
Tdo_16c
Thld_16e
Tsu_16e
Thld_16b
Tsu_16b
Thld_16b
Tsu_16b
Tlow_16a
Tper_16a
Thigh_16a
JTAG_TCK
JTAG_TDI
JTAG_TMS
EJTAG_TMS
JTAG_TDO
JTAG_TRST_N
GND
1
GND
TRST*
TDI
TDO
TMS
TCK
RST*
DINT
JTAG_TRST_N
JTAG_TDI
JTAG_TDO
EJTAG_TMS
JTAG_TCK
GND
VDD
GND
VccIO voltage
reference
Pu
ll-
up
Pull-do
w
n
Series-res.
COLDRSTN
Target System
Reset Circuit
Pu
ll-
up
Other reset
sources
RC32438
no connect
or RSTN
VSENSE
相關PDF資料 |
PDF描述 |
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| IDT79RC32K438-200BBGI | IC MPU 32BIT CORE 200MHZ 416-BGA |
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