參數(shù)資料
型號: IDT71P73104167BQ
廠商: Integrated Device Technology, Inc.
英文描述: 18Mb Pipelined DDR⑩II SRAM Burst of 4
中文描述: 35.7流水線的DDR II SRAM的突發(fā)⑩4
文件頁數(shù): 21/25頁
文件大小: 648K
代理商: IDT71P73104167BQ
6.42
21
IDT71P73204 (2M x 8-Bit), 71P73104 (2M x 9-Bit), 71P73804 (1M x 18-Bit) 71P73604 (512K x 36-Bit)
18 Mb DDR II SRAM Burst of 4 Commercial Temperature Range
JTAG DC Operating Conditions
Parameter
Symbol
Min
Typ
Max
Unit
Note
Output Power Supply
V
DDQ
1.4
-
1.9
V
Power Supply Voltage
V
DD
1.7
1.8
1.9
V
Input High Level
V
IH
1.3
-
VDD+0.3
V
Input Low Level
V
IL
-0.3
-
0.5
V
TCK Input Leakage Current
I
IL
-5
-
+5
μ
A
TMS, TDI Input Leakage Current
I
IL
-15
-
+15
μ
A
TDO Output Leakage Current
I
0L
-5
-
+5
μ
A
Output High Voltage (IOH =-1mA)
V
OH
V
DDQ
- 0.2
-
V
DDQ
V
1
Output LowVoltage (IOL = 1mA)
V
OL
V
SS
-
0.2
V
1
6431 tbl 19
Parameter
Symbol
Min
Unit
Note
Input High Level
V
IH
1.8
V
Input Low Level
V
IL
0
V
Input Rise/Fall Time
TR/TF
1.0/1.0
ns
Input and Output Timng Reference Level
0.9
V
1
6431 tbl 20
NOTE:
1. The output impedance of TDO is set to 50 ohms (nomnal process) and does not vary with the
external resistor connected to ZQ.
JTAG AC Test Conditions
NOTE:
1. For SRAMoutputs see AC test load on page 14.
JTAG Input Test Waveform
JTAG Output Test Waveform
JTAG AC Test Load
6431 drw 23
0.9 V
0.9 V
Test points
1.8 V
0 V
6431 drw 24
0.9 V
0.9 V
Test points
0.9 V
50
TDO
Z
0
= 50
6431 drw 25
,
相關PDF資料
PDF描述
IDT71P73104200BQ 18Mb Pipelined DDR⑩II SRAM Burst of 4
IDT71P73104250BQ 18Mb Pipelined DDR⑩II SRAM Burst of 4
IDT71P73204 18Mb Pipelined DDR⑩II SRAM Burst of 4
IDT71P73204167BQ 18Mb Pipelined DDR⑩II SRAM Burst of 4
IDT71P73204200BQ 18Mb Pipelined DDR⑩II SRAM Burst of 4
相關代理商/技術參數(shù)
參數(shù)描述
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