參數(shù)資料
型號(hào)： IDT71421SA
廠商： Integrated Device Technology, Inc.
英文描述： HIGH-SPEED 2K x 8 DUAL-PORT STATIC RAM WITH INTERRUPTS
中文描述： 高速2K × 8雙端口靜態(tài)RAM的中斷
文件頁(yè)數(shù)： 10/16頁(yè)
文件大?。?/td> 255K
代理商： IDT71421SA
10
IDT7132SA/LA and IDT 7142SA/LA
High Speed 2K x 8 Dual Port Static RAM Military, Industrial and Commercial Temperature Ranges
Timing Waveform of Write Cycle No. 1, (R/
W
Controlled Timing)
(1,5,8)
t
WC
ADDRESS
CE
R/
W
DATA
IN
t
AS
(6)
t
EW
(2)
t
WR
(3)
t
DW
t
DH
t
AW
2692 drw 10
Timing Waveform of Write Cycle No. 2, (
CE
Controlled Timing)
(1,5)
NOTES:
1. R/
W
or
CE
must be HIGH during all address transitions.
2. A write occurs during the overlap (t
EW
or t
WP
) of
CE
= V
IL
and R/
W
= V
IL
.
3. t
WR
is measured from the earlier of
CE
or R/
W
going HIGH to the end of the write cycle.
4. During this period, the l/O pins are in the output state and input signals must not be applied.
5. If the
CE
LOW transition occurs simultaneously with or after the R/
W
LOW transition, the outputs remain in the High-impedance state.
6. Timing depends on which enable signal (CE or R/W) is asserted last.
7. This parameter is determined be device characterization, but is not production tested. Transition is measured 0mV from steady state with the Output Test Load
(Figure 2).
8. If
OE
is LOW during a R/
W
controlled write cycle, the write pulse width must be the larger of t
WP
or (t
WZ
+ t
DW
) to allow the I/O drivers to turn off data to be placed on the
bus for the required t
DW
. If
OE
is HIGH during a R/
W
controlled write cycle, this requirement does not apply and the write pulse can be as short as the specified t
WP
.
t
WC
ADDRESS
OE
CE
R/
W
DATA
OUT
DATA
IN
t
AS
(6)
t
OW
t
DW
t
DH
t
AW
t
WP
(2)
t
HZ
(7)
(4)
(4)
t
WZ
(7)
t
HZ
(7)
2692 drw 09
t
WR
(3)
相關(guān)PDF資料
PDF描述
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參數(shù)描述
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