- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網(wǎng) > PDF目錄353180 > HD64F2646R Microcomputer Development Environment System H8S.H8/300 Series High-Performance Embedded Workshop 2 User＇s Manual/Cross tool PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號(hào)： | HD64F2646R |
| 英文描述： | Microcomputer Development Environment System H8S.H8/300 Series High-Performance Embedded Workshop 2 User＇s Manual/Cross tool |
| 中文描述： | 微機(jī)開發(fā)環(huán)境系統(tǒng)H8S.H8/300系列高性能的Embedded Workshop 2用戶手冊(cè)/交叉工具的性能 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 253/362頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 2772K |
| 代理商： | HD64F2646R |
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Hitachi Embedded Workshop User Manual
306
Syntax:
mv <start> <end> <dest> [<state>]
Parameter
Type
Description
<start>
Numeric
Start address
<end>
Numeric
End address (including this address)
<dest>
Numeric
Destination start address
Keyword
Verify flag (optional, default = V)
V
Verify
<state>
N
No verify
Examples:
MEMORY_MOVE H’1000 H’1FFF H’2000
Moves memory contents in the area from
H’1000 to H’1FFF into H’2000.
MV H’FB80 H’FF7F H’3000
Moves memory contents in the area from
H’FB80 to H’FF7F into H’3000.
5.43
MEMORY_TEST
Abbreviation: MT
Description:
Performs read, write, and verification testing in the specified address range. The original contents of memory
have been replaced by the newly written data. The test will access the memory according to the map settings.
This simulator/debugger does not support the MEMORY_TEST command.
Syntax:
mt <start> <end>
Parameter
Type
Description
<start>
Numeric
Start address
<end>
Numeric
End address (including this address)
Examples:
MEMORY_TEST H’8000 H’BFFF
Tests from H’8000 to H’BFFF.
MT H’4000 H’5000
Tests from H’4000 to H’5000.
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