- 您現在的位置：買賣IC網 > PDF目錄370443 > HCD404878 (Hitachi,Ltd.) Low-Voltage AS Microcomputers with On-Chip LCD Circuit(片上LCD電路的低壓微計算機) PDF資料下載
參數資料
| 型號： | HCD404878 |
| 廠商： | Hitachi,Ltd. |
| 英文描述： | Low-Voltage AS Microcomputers with On-Chip LCD Circuit(片上LCD電路的低壓微計算機) |
| 中文描述： | 低電壓如同在微機芯片LCD電路（片上液晶顯示器電路的低壓微計算機） |
| 文件頁數： | 162/200頁 |
| 文件大?。?/td> | 633K |
| 代理商： | HCD404878 |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁當前第162頁第163頁第164頁第165頁第166頁第167頁第168頁第169頁第170頁第171頁第172頁第173頁第174頁第175頁第176頁第177頁第178頁第179頁第180頁第181頁第182頁第183頁第184頁第185頁第186頁第187頁第188頁第189頁第190頁第191頁第192頁第193頁第194頁第195頁第196頁第197頁第198頁第199頁第200頁
HD404889/HD404899/HD404878/HD404868 Series
162
PROM Reliability after Programming:
In general, semiconductor devices retain their reliability,
provided that some initial defects can be excluded. These initial defects can be detected and rejected by
screening. Baking devices under high-temperature conditions is one method of screening that can rapidly
eliminate data-hold defects in memory cells. (Refer to the previous Principles of Programming/Erasure
section.)
ZTAT microcomputer devices are extremely reliable because they have been subjected to such a
screening method during the wafer fabrication process, but Hitachi recommends that each device be
exposed to 150
°
C at one atmosphere for at least 48 hours after it is programmed, to ensure its best
performance. The recommended screening procedure is shown in figure 99.
Note:
If programming errors occur continuously during PROM programming, suspend programming and
check for problems in the PROM programmer or socket adapter. If programming verification
indicates errors in programming or after high-temperature exposure, please inform Hitachi.
Note: Exposure time is measured from when the temperature in the heater reaches 150
°
C.
Programming, verification
Exposure to high temperature, without power
150
°
C
±
10
°
C, 48 h
+8 h
0 h
–
*
Program read check
V = 4.5 V or 5.5 V
Figure 99 Recommended Screening Procedure
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| HCD404889 | Low-Voltage AS Microcomputers with On-Chip LCD Circuit(片上LCD電路的低壓微計算機) |
| HCD404899 | Low-Voltage AS Microcomputers with On-Chip LCD Circuit(片上LCD電路的低壓微計算機) |
| HCD40C4082 | Low-Voltage AS Microcomputers with On-Chip A/D Converter(帶片上A/D轉換器的低壓微計算機) |
| HCD404082 | Low-Voltage AS Microcomputers with On-Chip A/D Converter(帶片上A/D轉換器的低壓微計算機) |
| HCD404084 | Low-Voltage AS Microcomputers with On-Chip A/D Converter(帶片上A/D轉換器的低壓微計算機) |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
|---|---|
| HCD404889 | 制造商:RENESAS 制造商全稱:Renesas Technology Corp 功能描述:Low-Voltage AS Microcomputers with On-Chip LCD Circuit |
| HCD40C4344R | 制造商:HITACHI 制造商全稱:Hitachi Semiconductor 功能描述:4-bit microcomputers |
| HCD44780UA00 | 制造商:HITACHI 制造商全稱:Hitachi Semiconductor 功能描述:Dot Matrix Liquid Crystal Display Controller/Driver |
| HCD44780UA02 | 制造商:HITACHI 制造商全稱:Hitachi Semiconductor 功能描述:Dot Matrix Liquid Crystal Display Controller/Driver |
| HCD44780UBXX | 制造商:HITACHI 制造商全稱:Hitachi Semiconductor 功能描述:Dot Matrix Liquid Crystal Display Controller/Driver |
發(fā)布緊急采購，3分鐘左右您將得到回復。