參數(shù)資料
型號: HA17339
廠商: Hitachi,Ltd.
元件分類: 比較器
英文描述: 250000 SYSTEM GATE 1.5 VOLT FPGA
中文描述: 四重比較
文件頁數(shù): 6/16頁
文件大小: 79K
代理商: HA17339
HA17901, HA17339 Series
6
Test Circuits
1. Input offset voltage (V
IO
), input offset current (I
IO
), and Input bias current (I
IB
) test circuit
V
+
+
V
CC
R
L
51k
V
O
470
μ
SW2
Rf 5 k
R 20 k
R 20 k
SW1
R
S
50
R
S
50
V
C2
V
C1
Rf 5k
SW1
On
Off
On
Off
SW2
On
Off
Off
On
Vout
V
O1
V
O2
V
O3
V
O4
V
C1
=
1
CC
V
C2
= 1.4V
V
IO
=
|
V
O1
|
1 + Rf / R
S
(mV)
I
IO
=
|
V
O2
– V
O1
|
R(1 + Rf / R
S
)
(nA)
I
IB
=
|
V
O4
– V
O3
|
2 · R(1 + Rf / R
S
)
(nA)
2. Output saturation voltage (V
O
sat) output sink current (Iosink), and common-mode input voltage (V
CM
)
test circuit
V
C1
V
CC
50
50
50
5k
1.6k
1
2
SW1
SW3
1
2
Item
V
O
sat
V
C1
2V
V
C2
0V
V
C3
SW1
1
SW2
1
SW3
1 at
V
CC
= 5V
3 at
V
CC
= 15V
2
3
Unit
V
Iosink 2V
V
CM
0V
–1 to
V
CC
1.5V
1
2
1
Switched
between
1 and 2
mA
V
2V
+
SW2
V
C2
4.87k
V
C3
3. Supply current (I
CC
) test circuit
A
+
V
CC
I
CC
: R
L
=
1V
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