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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | CBT3126DB |
| 廠商： | NXP Semiconductors N.V. |
| 元件分類： | 開關(guān) |
| 英文描述： | Quad FET bus switch |
| 中文描述： | 四場效應(yīng)晶體管總線開關(guān) |
| 封裝： | CBT3126D<SOT108-1 (SO14)|<<http://www.nxp.com/packages/SOT108-1.html<1<week 5, 2004,;CBT3126D<SOT108-1 (SO14)|<<http://www.nxp.com/packages/SOT108-1.html<1<week 5, |
| 文件頁數(shù)： | 10/13頁 |
| 文件大?。?/td> | 90K |
| 代理商： | CBT3126DB |
CBT3126_4
NXP B.V. 2009. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 04 — 12 October 2009
6 of 13
NXP Semiconductors
CBT3126
Quad FET bus switch
12. Test information
Test data is given in Table 9.
Denitions for test circuit:
RL = Load resistance.
CL = Load capacitance including jig and probe capacitance.
RT = Termination resistance should be equal to the output impedance Zo of the pulse generator.
VEXT = External voltage for measuring switching times.
Fig 8.
Test circuit for measuring switching times
VM
tW
10 %
90 %
0 V
VI
negative
pulse
positive
pulse
0 V
VM
90 %
10 %
tf
tr
tf
001aae331
VEXT
VCC
VI
VO
DUT
CL
RT
RL
G
Table 9.
Test data
Supply voltage
Input
Load
VEXT
VCC
VI
tr, tf
CL
RL
tPLH, tPHL
tPLZ, tPZL
tPHZ, tPZH
4.5 V to 5.5 V
GND to 3.0 V
≤ 2.5 ns
50 pF
500
open
7.0 V
open
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