參數資料
型號： CAT25C11LA-TE13
元件分類： EEPROM
英文描述： 1K/2K/4K/8K/16K SPI Serial CMOS EEPROM
中文描述： 1K/2K/4K/8K/16K SPI 串行 互補型金屬氧化物 電可擦可編程只讀存儲器
文件頁數： 4/10頁
文件大小： 77K
代理商： CAT25C11LA-TE13
3
CAT25010/20/40
Doc. No. 1006, Rev. G
Limits
1.8V-6.0V
2.5V-6.0V
4.5V-5.5V
Test
SYMBOL PARAMETER
Min.
Max. Min.
Max.
Min.
Max.
UNITS
Conditions
tSU
Data Setup Time
50
20
ns
VIH = 2.4V
tH
Data Hold Time
50
20
ns
CL = 100pF
tWH
SCK High Time
250
75
40
ns
VOL = 0.8V
tWL
SCK Low Time
250
75
40
ns
VOH = 2.0v
fSCK
Clock Frequency
DC
1
DC
5
DC
10
MHz
tLZ
HOLD to Output Low Z
50
ns
tRI(1)
Input Rise Time
2
s
tFI(1)
Input Fall Time
2
s
tHD
HOLD Setup Time
100
40
ns
tCD
HOLD Hold Time
100
40
ns
CL = 100pF
tWC(3)
Write Cycle Time
5
ms
tV
Output Valid from Clock Low
250
75
40
ns
tHO
Output Hold Time
0
ns
tDIS
Output Disable Time
250
75
ns
tHZ
HOLD to Output High Z
150
50
ns
tCS
CS High Time
500
100
ns
tCSS
CS Setup Time
500
100
ns
tCSH
CS Hold Time
500
100
ns
tWPS
WP Setup Time
150
50
ns
tWPH
WP Hold Time
150
50
ns
NOTE:
(1) This parameter is tested initially and after a design or process change that affects the parameter.
(2) AC Test Conditions:
Input Pulse Voltages: 0.3VCC to 0.7VCC
Input rise and fall times:
≤10ns
Input and output reference voltages: 0.5VCC
Output load: current source IOL max/IOH max; CL=50pF
(3) tWC is the time from the rising edge of CS after a valid write sequence to the end of the internal write cycle.
A.C. CHARACTERISTICS
CL = 50pF
(note 2)
PIN CAPACITANCE (1)
Applicable over recommended operating range from TA=25C, f=1.0 MHz, VCC=+5.0V.
Symbol
Test Conditions
Max.
Units
Conditions
COUT
Output Capacitance (SO)
8
pF
VOUT=0V
CIN
Input Capacitance (
CS, SCK, SI, WP, HOLD)6
pF
VIN=0V
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PDF描述
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