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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | B57276K1232A27 |
| 元件分類： | 熱敏電阻 |
| 英文描述： | THERMISTOR PROBE NTC K276/12K/A27 |
| 中文描述： | 負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻探頭K276/12K/A27 |
| 文件頁數(shù)： | 2/2頁 |
| 文件大?。?/td> | 752K |
| 代理商： | B57276K1232A27 |
Siemens Matsushita Components
75
Reliability data
Test
Standard
Test conditions
R
25
/R
25
(typical)
Remarks
Storage in
dry heat
IEC
60068-2-2
Storage at upper
category temperature
T: 100
°
C
t: 1000 h
Temperature of air: 40
°
C
Relative humidity of air: 93 %
Duration: 56 days
< 2 %
No visible
damage
Storage in damp
heat, steady state
IEC
60068-2-3
< 1 %
No visible
damage
Rapid temperature
cycling
IEC
60068-2-14
Lower test temperature: – 10
°
C
Upper test temperature: 100
°
C
Number of cycles: 10
< 1 %
No visible
damage
Endurance
P
max
: 500 mW
Duration: 1000 h
< 2 %
No visible
damage
Long-term stability
(empirical value)
Temperature: 100
°
C
Duration: 10 000 h
< 3 %
No visible
damage
Robustness of
terminations
DIN
46 249
Pull-out force
(both connectors together)
F = 50 N
—
No visible
damage
B57276
K 276
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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