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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | AGLN060V5-ZCSG81 |
| 廠商： | Microsemi SoC |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 100/150頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA NANO 1KB 60K 81-CSP |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 640 |
| 系列： | IGLOO nano |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 1536 |
| RAM 位總計(jì)： | 18432 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 60 |
| 門(mén)數(shù)： | 60000 |
| 電源電壓： | 1.425 V ~ 1.575 V |
| 安裝類(lèi)型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | -20°C ~ 70°C |
| 封裝/外殼： | 81-WFBGA，CSBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 81-CSP（5x5） |
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IGLOO nano Low Power Flash FPGAs
Revision 17
2-37
1.5 V LVCMOS (JESD8-11)
Low-Voltage CMOS for 1.5 V is an extension of the LVCMOS standard (JESD8-5) used for general
purpose 1.5 V applications. It uses a 1.5 V input buffer and a push-pull output buffer.
Table 2-57 Minimum and Maximum DC Input and Output Levels
1.5 V
LVCMOS
VIL
VIH
VOL
VOH
IOL IOH IOSL
IOSH
IIL 1 IIH 2
Drive
Strength
Min.
V
Max.
V
Min.
V
Max.
V
Max.
V
Min.
VmA mA
Max.
mA3
Max.
mA3
A4 A4
2 mA
–0.3 0.35 * VCCI 0.65 * VCCI
3.6
0.25 * VCCI 0.75 * VCCI
2
13
16
10
Notes:
1. IIL is the input leakage current per I/O pin over recommended operating conditions where –0.3 < VIN < VIL.
2. IIH is the input leakage current per I/O pin over recommended operating conditions where VIH < VIN < VCCI. Input
current is larger when operating outside recommended ranges.
3. Currents are measured at high temperature (100°C junction temperature) and maximum voltage.
4. Currents are measured at 85°C junction temperature.
5. Software default selection highlighted in gray.
Figure 2-10 AC Loading
Table 2-58 1.5 V LVCMOS AC Waveforms, Measuring Points, and Capacitive Loads
Input LOW (V)
Input HIGH (V)
Measuring Point* (V)
CLOAD (pF)
01.5
0.75
5
Note: *Measuring point = Vtrip. See Table 2-23 on page 2-20 for a complete table of trip points.
Test Point
Enable Path
Datapath
5 pF
R = 1 k
R to VCCI for tLZ / tZL / tZLS
R to GND for tHZ / tZH / tZHS
5 pF for tZH / tZHS / tZL / tZLS
5 pF for tHZ / tLZ
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