IDS V1 SD VS
參數(shù)資料
型號(hào)： ADG513BRZ-REEL7
廠商： Analog Devices Inc
文件頁(yè)數(shù)： 12/12頁(yè)
文件大小： 0K
描述： IC SWITCH QUAD SPST 16SOIC
產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： Switch Fundamentals
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 1,000
系列： LC²MOS
功能： 開關(guān)
電路： 4 x SPST - NC/NO
導(dǎo)通狀態(tài)電阻： 45 歐姆
電壓電源： 單/雙電源
電壓 - 電源，單路/雙路(±)： 3V，5V，±5V
電流 - 電源： 100pA
工作溫度： -40°C ~ 85°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 16-SOIC（0.154"，3.90mm 寬）
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 16-SOIC
包裝： 帶卷 (TR)
ADG511/ADG512/ADG513
REV. C
–9–
IDS
V1
SD
VS
RON = V1/IDS
Test Circuit 1. On Resistance
SD
VS
A
VD
A
IS (OFF)
ID (OFF)
Test Circuit 2. Off Leakage
SD
VS
VD
A
ID (ON)
Test Circuit 3. On Leakage
SD
VDD
0.1 F
VDD
IN
VS
GND
VSS
RL
300
CL
35pF
VOUT
0.1 F
VSS
tON
tOFF
3V
50%
3V
90%
VIN
VOUT
ADG511
ADG512
Test Circuit 4. Switching Times
S1
D1
0.1 F
VDD
IN1, IN2
VS1
GND
VSS
RL1
300
CL1
35pF
VOUT1
0.1 F
VS2
VOUT2
RL2
300
CL2
35pF
S2
VIN
D2
VDD
VSS
tD
3V
50%
90%
VIN
VOUT1
VOUT2
90%
0V
Test Circuit 5. Break-Before-Make Time Delay
SD
VDD
IN
VS
GND
VSS
CL
10nF
VOUT
RS
VSS
VDD
3V
VIN
VOUT
QINJ = CL
VOUT
Test Circuit 6. Charge Injection
Test Circuits
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PDF描述
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