參數(shù)資料
型號(hào)： AD8630ARZ-REEL7
廠(chǎng)商： ANALOG DEVICES INC
元件分類(lèi)： 運(yùn)動(dòng)控制電子
英文描述： Zero-Drift, Single-Supply, Rail-to-Rail Input/Output Operational Amplifier
中文描述： QUAD OP-AMP, 10 uV OFFSET-MAX, 2500 MHz BAND WIDTH, PDSO14
封裝： ROHS COMPLIANT, PLASTIC, MS-012AB, SOIC-14
文件頁(yè)數(shù)： 5/24頁(yè)
文件大?。?/td> 313K
代理商： AD8630ARZ-REEL7
AD8628/AD8629/AD8630
ELECTRICAL CHARACTERISTICS
V
S
= 2.7 V, V
CM
= 1.35 V, V
O
= 1.4 V, T
A
= 25°C, unless otherwise noted.
Table 2.
Parameter
INPUT CHARACTERISTICS
Offset Voltage
Input Bias Current
(AD8630)
Input Offset Current
Input Voltage Range
Common-Mode Rejection Ratio
Large Signal Voltage Gain
1
Offset Voltage Drift
OUTPUT CHARACTERISTICS
Output Voltage High
Output Voltage Low
Short-Circuit Limit
Output Current
POWER SUPPLY
Power Supply Rejection Ratio
Supply Current/Amplifier
INPUT CAPACITANCE
Differential
Common-Mode
DYNAMIC PERFORMANCE
Slew Rate
Overload Recovery Time
Gain Bandwidth Product
NOISE PERFORMANCE
Voltage Noise
Voltage Noise Density
Current Noise Density
Rev. E | Page 5 of 24
—
V
S
= 2.7 V
Symbol
V
OS
I
B
I
OS
CMRR
A
VO
V
OS
/T
V
OH
V
OL
I
SC
I
O
PSRR
I
SY
C
IN
SR
GBP
e
n
p-p
e
n
i
n
Conditions
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
V
CM
= 0 V to 2.7 V
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
R
L
= 10 kΩ, V
O
= 0.3 V to 2.4 V
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
R
L
= 100 kΩ to ground
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
R
L
= 10 kΩ to ground
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
R
L
= 100 kΩ to V+
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
R
L
= 10 kΩ to V+
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
V
S
= 2.7 V to 5.5 V
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
V
O
= 0 V
40°C ≤ T
A
≤ +125°C
R
L
= 10 kΩ
0.1 Hz to 10 Hz
f = 1 kHz
f = 10 Hz
Min
0
115
110
110
105
2.68
2.68
2.67
2.67
±10
115
Typ
1
30
100
1.0
50
130
120
140
130
0.002
2.695
2.695
2.68
2.675
1
2
10
15
±15
±10
±10
±5
130
0.75
0.9
1.5
8.0
1
0.05
2
0.5
22
5
Max
5
10
100
300
1.5
200
250
2.7
0.02
5
5
20
20
1.0
1.2
Unit
μV
μV
pA
pA
nA
pA
pA
V
dB
dB
dB
dB
μV/°C
V
V
V
V
mV
mV
mV
mV
mA
mA
mA
mA
dB
mA
mA
pF
pF
V/μs
ms
MHz
μV p-p
nV/√Hz
fA/√Hz
1
Gain testing is highly dependent on test bandwidth.
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