VMS A B W V+ = V
參數(shù)資料
型號： AD5222BRZ100
廠商： Analog Devices Inc
文件頁數(shù)： 8/10頁
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描述： IC POT DGTL DUAL 128POS 14SOIC
產(chǎn)品變化通告： Product Discontinuance 27/Oct/2011
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 56
接片： 128
電阻（歐姆）： 100k
電路數(shù)： 2
溫度系數(shù)： 標(biāo)準(zhǔn)值 -35 ppm/°C
存儲器類型： 易失
接口： 4 線串行（芯片選擇，遞增，增/減）
電源電壓： 2.7 V ~ 5.5 V，±2.3 V ~ 2.7 V
工作溫度： -40°C ~ 85°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 14-SOIC（0.154"，3.90mm 寬）
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 14-SOICN
包裝： 管件
Parametric Test Circuits–AD5222
–7–
REV. 0
V+
DUT
VMS
A
B
W
V+ = VDD
1LSB = V+/128
Figure 21. Potentiometer Divider Nonlinearity Error Test
Circuit (INL, DNL)
NO CONNECT
IW
DUT
VMS
A
B
W
Figure 22. Resistor Position Nonlinearity Error (Rheostat
Operation; R-INL, R-DNL)
VMS2
VW
IW = VDD/RNOMINAL
DUT
VMS1
A
B
W
RW = [VMS1 – VMS2]/IW
Figure 23. Wiper Resistance Test Circuit
PSRR (dB) = 20 LOG
( ––––– )
PSS (%/%) = –––––––
VMS
VDD
VMS%
VDD%
V+ = VDD ± 10%
VDD
VA
~
V+
VMS
A
B
W
Figure 24. Power Supply Sensitivity Test Circuit (PSS,
PSRR)
A
B
VIN
OP279
+5V
VOUT
DUT
W
+
–5V
Figure 25. Inverting Programmable Gain Test Circuit
+5V
–5V
A
B
VIN
VOUT
DUT
W
OP279
Figure 26. Noninverting Programmable Gain Test Circuit
A
B
DUT
W
VIN
OP42
+15V
VOUT
–15V
Figure 27. Gain vs. Frequency Test Circuit
ISW
0 TO VDD
RSW =
0.1V
ISW
CODE = 00H
0.1V
DUT
B
W
Figure 28. Incremental ON Resistance Test Circuit
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PDF描述
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參數(shù)描述
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AD5222BRZ1M 功能描述:IC DGTL POT 128POS 1M DL 14SOIC RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 數(shù)據(jù)采集 - 數(shù)字電位器 系列:- 標(biāo)準(zhǔn)包裝:3,300 系列:WiperLock™ 接片:257 電阻（歐姆）:100k 電路數(shù):1 溫度系數(shù):標(biāo)準(zhǔn)值 150 ppm/°C 存儲器類型:易失 接口:3 線 SPI（芯片選擇） 電源電壓:1.8 V ~ 5.5 V 工作溫度:-40°C ~ 125°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:8-VDFN 裸露焊盤 供應(yīng)商設(shè)備封裝:8-DFN-EP（3x3） 包裝:帶卷 (TR)
AD5222BRZ50 功能描述:IC POT DGTL DUAL 128POS 14SOIC RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 數(shù)據(jù)采集 - 數(shù)字電位器 系列:- 標(biāo)準(zhǔn)包裝:3,300 系列:WiperLock™ 接片:257 電阻（歐姆）:100k 電路數(shù):1 溫度系數(shù):標(biāo)準(zhǔn)值 150 ppm/°C 存儲器類型:易失 接口:3 線 SPI（芯片選擇） 電源電壓:1.8 V ~ 5.5 V 工作溫度:-40°C ~ 125°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:8-VDFN 裸露焊盤 供應(yīng)商設(shè)備封裝:8-DFN-EP（3x3） 包裝:帶卷 (TR)
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