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參數(shù)資料
| 型號： | A3PN020-1QNG68 |
| 廠商： | Microsemi SoC |
| 文件頁數(shù)： | 24/114頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA NANO 20K GATES 68-QFN |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 260 |
| 系列： | ProASIC3 nano |
| 輸入/輸出數(shù)： | 49 |
| 門數(shù)： | 20000 |
| 電源電壓： | 1.425 V ~ 1.575 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 70°C |
| 封裝/外殼： | 68-VFQFN 裸露焊盤 |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 68-QFN（8x8） |
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ProASIC3 nano Flash FPGAs
Revision 11
2-3
I/O Power-Up and Supply Voltage Thresholds for Power-On Reset
(Commercial and Industrial)
Sophisticated power-up management circuitry is designed into every ProASIC3 device. These circuits
ensure easy transition from the powered-off state to the powered-up state of the device. The many
different supplies can power up in any sequence with minimized current spikes or surges. In addition, the
I/O will be in a known state through the power-up sequence. The basic principle is shown in Figure 2-1
There are five regions to consider during power-up.
ProASIC3 I/Os are activated only if ALL of the following three conditions are met:
1. VCC and VCCI are above the minimum specified trip points (Figure 2-1 on page 2-4).
2. VCCI > VCC – 0.75 V (typical)
3. Chip is in the operating mode.
VCCI Trip Point:
Ramping up: 0.6 V < trip_point_up < 1.2 V
Ramping down: 0.5 V < trip_point_down < 1.1 V
VCC Trip Point:
Ramping up: 0.6 V < trip_point_up < 1.1 V
Ramping down: 0.5 V < trip_point_down < 1 V
VCC and VCCI ramp-up trip points are about 100 mV higher than ramp-down trip points. This specifically
built-in hysteresis prevents undesirable power-up oscillations and current surges. Note the following:
During programming, I/Os become tristated and weakly pulled up to VCCI.
JTAG supply, PLL power supplies, and charge pump VPUMP supply have no influence on I/O
behavior.
PLL Behavior at Brownout Condition
Microsemi recommends using monotonic power supplies or voltage regulators to ensure proper power-
up behavior. Power ramp-up should be monotonic at least until VCC and VCCPLLX exceed brownout
activation levels. The VCC activation level is specified as 1.1 V worst-case (see Figure 2-1 on page 2-4
for more details).
When PLL power supply voltage and/or VCC levels drop below the VCC brownout levels (0.75 V ±
0.25 V), the PLL output lock signal goes low and/or the output clock is lost. Refer to the
"Power-Up/-Down Behavior of Low Power Flash Devices" chapter of the ProASIC3 nano FPGA Fabric
User’s Guide for information on clock and lock recovery.
Table 2-4 Overshoot and Undershoot Limits 1
VCCI and VMV
Average VCCI–GND Overshoot or Undershoot
Duration as a Percentage of Clock Cycle 2
Maximum Overshoot/
Undershoot 2
2.7 V or less
10%
1.4 V
5%
1.49 V
3 V
10%
1.1 V
5%
1.19 V
3.3 V
10%
0.79 V
5%
0.88 V
3.6 V
10%
0.45 V
5%
0.54 V
Notes:
1. Based on reliability requirements at 85°C.
2. The duration is allowed at one out of six clock cycles. If the overshoot/undershoot occurs at one out of two cycles, the
maximum overshoot/undershoot has to be reduced by 0.15 V.
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| A3PN020-2QNG68I | 功能描述:IC FPGA NANO 20K GATES 68-QFN RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現(xiàn)場可編程門陣列） 系列:ProASIC3 nano 標(biāo)準(zhǔn)包裝:152 系列:IGLOO PLUS LAB/CLB數(shù):- 邏輯元件/單元數(shù):792 RAM 位總計(jì):- 輸入/輸出數(shù):120 門數(shù):30000 電源電壓:1.14 V ~ 1.575 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:-40°C ~ 85°C 封裝/外殼:289-TFBGA，CSBGA 供應(yīng)商設(shè)備封裝:289-CSP（14x14） |
| A3PN020-QNG68 | 功能描述:IC FPGA NANO 172MAC 68QFN RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現(xiàn)場可編程門陣列） 系列:ProASIC3 nano 標(biāo)準(zhǔn)包裝:60 系列:XP LAB/CLB數(shù):- 邏輯元件/單元數(shù):10000 RAM 位總計(jì):221184 輸入/輸出數(shù):244 門數(shù):- 電源電壓:1.71 V ~ 3.465 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:0°C ~ 85°C 封裝/外殼:388-BBGA 供應(yīng)商設(shè)備封裝:388-FPBGA（23x23） 其它名稱:220-1241 |
| A3PN020-QNG68I | 功能描述:IC FPGA NANO 20K GATES 68-QFN RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現(xiàn)場可編程門陣列） 系列:ProASIC3 nano 標(biāo)準(zhǔn)包裝:152 系列:IGLOO PLUS LAB/CLB數(shù):- 邏輯元件/單元數(shù):792 RAM 位總計(jì):- 輸入/輸出數(shù):120 門數(shù):30000 電源電壓:1.14 V ~ 1.575 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:-40°C ~ 85°C 封裝/外殼:289-TFBGA，CSBGA 供應(yīng)商設(shè)備封裝:289-CSP（14x14） |
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