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參數(shù)資料
| 型號： | A1010B-PQG100I |
| 廠商： | Microsemi SoC |
| 文件頁數(shù)： | 53/98頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA 1200 GATES 100-PQFP IND |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 66 |
| 系列： | ACT™ 1 |
| LAB/CLB數(shù)： | 295 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 57 |
| 門數(shù)： | 1200 |
| 電源電壓： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 100-BQFP |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 100-PQFP（14x20） |
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57
Hi R e l F P GA s
TD I
Tes t D ata In
Serial data input for JTAG instructions and data. Data is
shifted in on the rising edge of TCLK. This pin functions as an
I/O when the JTAG fuse is not programmed. JTAG pins are
only available in the 3200DX device.
TD O
Tes t D ata Out
Serial data output for JTAG instructions and test data. This pin
functions as an I/O when the JTAG fuse is not programmed.
JTAG pins are only available in the 3200DX device.
TM S
Tes t Mo de Select
Serial data input for JTAG test mode. Data is shifted in on the
rising edge of TCLK. This pin functions as an I/O when the
JTAG fuse is not programmed. JTAG pins are only available in
the 3200DX device.
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PDF描述 |
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