參數(shù)資料
型號： 74VHCT03ATTR
廠商： 意法半導體
英文描述： QUAD 2-INPUT OPEN DRAIN NAND GATE
中文描述： 四2輸入與非門開漏
文件頁數(shù)： 4/8頁
文件大?。?/td> 158K
代理商： 74VHCT03ATTR
74VHCT03A
4/8
DYNAMIC SWITCHING CHARACTERISTICS
1) Worst case package.
2) Max number of outputs defined as (n). Data inputs are driven 0V to 3.0V, (n-1) outputs switching and one output at GND.
3) Max number of data inputs (n) switching. (n-1) switching 0V to 3.0V. Inputs under test switching: 3.0V to threshold (V
ILD
), 0V to threshold
(V
IHD
), f=1MHz.
TEST CIRCUIT
C
L
=15/50pF or equivalent (includes jig and probe capacitance)
R
L
= R
1
= 1K
or equivalent
R
T
= Z
OUT
of pulse generator (typically 50
)
Symbol
Parameter
Test Condition
Value
Unit
V
CC
(V)
T
A
= 25°C
-40 to 85°C
-55 to 125°C
Min.
Typ.
Max.
Min.
Max.
Min.
Max.
V
OLP
Dynamic Low
Voltage Quiet
Output (note 1, 2)
Dynamic High
Voltage Input
(note 1, 3)
Dynamic Low
Voltage Input
(note 1, 3)
5.0
C
L
= 50 pF
0.3
0.8
V
V
OLV
-0.8
-0.3
V
IHD
5.0
2.0
V
ILD
5.0
0.8
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PDF描述
74VHCT03AM QUAD 2-INPUT OPEN DRAIN NAND GATE
74VHCT03AT QUAD 2-INPUT OPEN DRAIN NAND GATE
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74VHCT04AM Octal Buffers And Line Drivers With 3-State Outputs 20-TSSOP -40 to 85
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