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參數(shù)資料
| 型號： | 74LVC2G74DP,125 |
| 廠商： | NXP Semiconductors |
| 文件頁數(shù)： | 5/20頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC SNGL D FF POS-EDG TRIG 8TSSOP |
| 產(chǎn)品培訓模塊： | Logic Packages |
| 標準包裝： | 1 |
| 系列： | 74LVC |
| 功能： | 設置（預設）和復位 |
| 類型： | D 型 |
| 輸出類型： | 差分 |
| 元件數(shù)： | 1 |
| 每個元件的位元數(shù)： | 1 |
| 頻率 - 時鐘： | 200MHz |
| 延遲時間 - 傳輸： | 2.5ns |
| 觸發(fā)器類型： | 正邊沿 |
| 輸出電流高，低： | 32mA，32mA |
| 電源電壓： | 1.65 V ~ 5.5 V |
| 工作溫度： | -40°C ~ 125°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 8-TSSOP，8-MSOP（0.118"，3.00mm 寬） |
| 包裝： | 標準包裝 |
| 其它名稱： | 568-7681-6 |
74LVC2G74
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NXP B.V. 2013. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 10 — 2 April 2013
13 of 25
NXP Semiconductors
74LVC2G74
Single D-type flip-flop with set and reset; positive edge trigger
Test data is given in Table 11.
Definitions for test circuit:
RL = Load resistance.
CL = Load capacitance including jig and probe capacitance.
RT = Termination resistance should be equal to the output impedance Zo of the pulse generator.
VEXT = External voltage for measuring switching times.
Fig 10. Test circuit for measuring switching times
VEXT
VCC
VI
VO
mna616
DUT
CL
RT
RL
G
Table 11.
Test data
Supply voltage
Input
Load
VEXT
VCC
VI
tr, tf
CL
RL
tPLH, tPHL
tPZH, tPHZ
tPZL, tPLZ
1.65 V to 1.95 V
VCC
2.0ns
30pF
1k
open
GND
2VCC
2.3 V to 2.7 V
VCC
2.0 ns
30 pF
500
open
GND
2VCC
2.7 V
2.5 ns
50 pF
500
open
GND
6 V
3.0 V to 3.6 V
2.7 V
2.5 ns
50 pF
500
open
6 V
4.5 V to 5.5 V
VCC
2.5 ns
50 pF
500
open
GND
2VCC
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
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相關代理商/技術參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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