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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | 74HC74PW,112 |
| 廠商： | NXP Semiconductors |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 4/21頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC DUAL POS-EDG-TRG D FF 14TSSOP |
| 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： | Logic Packages |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 2,400 |
| 系列： | 74HC |
| 功能： | 設(shè)置（預(yù)設(shè)）和復(fù)位 |
| 類型： | D 型 |
| 輸出類型： | 差分 |
| 元件數(shù)： | 2 |
| 每個(gè)元件的位元數(shù)： | 1 |
| 頻率 - 時(shí)鐘： | 82MHz |
| 延遲時(shí)間 - 傳輸： | 14ns |
| 觸發(fā)器類型： | 正邊沿 |
| 輸出電流高，低： | 5.2mA，5.2mA |
| 電源電壓： | 2 V ~ 6 V |
| 工作溫度： | -40°C ~ 125°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 14-TSSOP（0.173"，4.40mm 寬） |
| 包裝： | 管件 |
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74HC_HCT74
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Product data sheet
Rev. 4 — 27 August 2012
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NXP Semiconductors
74HC74; 74HCT74
Dual D-type flip-flop with set and reset; positive edge-trigger
Test data is given in Table 10.
Definitions test circuit:
RT = Termination resistance should be equal to output impedance Zo of the pulse generator.
CL = Load capacitance including jig and probe capacitance.
RL = Load resistance.
S1 = Test selection switch.
Fig 9.
Test circuit for measuring switching times
001aah768
tW
tr
tf
VM
VI
negative
pulse
GND
VI
positive
pulse
GND
10 %
90 %
10 %
VM
tf
VCC
DUT
RT
VI
VO
CL
G
Table 10.
Test data
Type
Input
Load
Test
VI
tr, tf
CL
RL
74HC74
VCC
6ns
15pF, 50 pF
1k
tPLH, tPHL
74HCT74
3V
6ns
15pF, 50 pF
1k
tPLH, tPHL
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參數(shù)描述 |
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