參數(shù)資料
型號(hào)： HEF4040BP
廠商： NXP Semiconductors N.V.
元件分類： 通用總線功能
英文描述： 12-stage binary ripple counter
封裝： HEF4040BP<SOT38-4 (DIP16)|<<http://www.nxp.com/packages/SOT38-4.html<1<Always Pb-free,;HEF4040BT<SOT109-1 (SO16)|<<http://www.nxp.com/packages/SOT109-1.html<1<week
文件頁(yè)數(shù)： 8/14頁(yè)
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代理商： HEF4040BP
HEF4040B
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Product data sheet
Rev. 7 — 10 October 2011
8 of 14
NXP Semiconductors
HEF4040B
12-stage binary ripple counter
a. Input waveforms
b. Test circuit
Test data is given in
Table 9
.
Definitions test circuit:
DUT = Device Under Test;
C
L
= load capacitance, including the jig and probe capacitance;
R
L
= load resistance, which should be equal to the output impedance of the pulse generator.
Test circuit for measuring switching times
Fig 6.
V
M
V
M
t
W
t
W
10 %
90 %
10 %
90 %
0 V
V
I
V
I
negative
pulse
positive
pulse
0 V
V
M
V
M
90 %
10 %
90 %
10 %
t
f
t
r
t
r
t
f
001aaj781
V
DD
V
I
V
O
001aag182
DUT
CL
RT
G
Table 9.
Supply voltage
V
DD
5 V to 15 V
Test data
Input
V
I
V
SS
or V
DD
Load
C
L
50 pF
t
r
, t
f
20 ns
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PDF描述
HEF4040BT 12-stage binary ripple counter
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