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[摘要] 本技術(shù)提供的頻率抖動電路包括：振蕩電路，產(chǎn)生鋸齒波信號；電路，所述振蕩頻率信號輸入電路，并控制所述電路產(chǎn)生若干脈沖信號；電平選擇電路，所述脈沖信號控制電平選擇電路，產(chǎn)生隨脈沖輸出信號變動的輸出電平信號；比較器電路，比較所述振蕩頻率鋸齒波信號和輸出電平信號，產(chǎn)生頻率抖動信號，隨輸出電平信號的改變，頻率抖動信號的占空比和開通/關斷的邊緣發(fā)生變化。同時
003 時鐘抖動測量電路及其校準方法
[摘要] 本技術(shù)提供了一種時鐘抖動測量電路，該電路包括：第一振蕩信號產(chǎn)生單元，產(chǎn)生周期為TV1的第一振蕩信號；第二振蕩信號產(chǎn)生單元，產(chǎn)生周期為TV2的第二振蕩信號，且觸發(fā)第二振蕩信號產(chǎn)生單元起振的被測時鐘信號邊沿比觸發(fā)第一振蕩信號產(chǎn)生單元起振的被測時鐘信號邊沿晚一個周期，同時TV2小于TV1；第一復位控制
007 內(nèi)建抖動測量電路
[摘要] 本技術(shù)揭露一種時間抖動測量電路與校正此抖動測量電路的校正方法。此測量電路包括：同步雙相檢測電路與決定電路。當處于測試模式時，可得到待測時鐘信號的機率分布圖。當處于校正模式時，可利用一隨機時鐘信號以校正同步雙向檢測電路。此隨機時鐘信號可能由外部輸入或由待測電路內(nèi)部的處于振蕩的振蕩器所產(chǎn)生
004 帶有抖動測量功能的半導體集成電路
[摘要] 帶有抖動測量功能的半導體集成電路包括：限幅器(11)、T/V器(12)、A/D器(13)、處理器(14)、多路器(15)以及校正單元(16)。限幅器(11)將輸入信號2值化，數(shù)據(jù)信號。T/V器(12)輸出與輸入信號的數(shù)據(jù)長度對應的電壓。多路器(15)切換數(shù)據(jù)信號和基準信號作為T/V器(12)的輸入信號。A/D器(13)將T/
008 抖動測量儀及利用了該抖動測量儀的光盤裝置
[摘要] 本技術(shù)提供一種抖動測量儀，其與根據(jù)2值信號該信號處理所需的時鐘信號的PLL電路連接，測量所述2值信號的抖動，包括：判定信號電路，其利用構(gòu)成所述PLL電路的VCO的輸出信號等，以所述時鐘信號的脈沖邊沿為相位中心的具有規(guī)定的脈沖寬度的判定信號；相位判定電路，其基于構(gòu)成所述PLL電路的相位比較器的輸出信號和所述判定信號，每當所述2值信號發(fā)生邏輯翻轉(zhuǎn)時，判定該翻轉(zhuǎn)位置是否落入所述判定信號的脈沖寬度所確定的判定區(qū)間內(nèi)；和相位計數(shù)器，其基于所述相位判定電路的輸出信號，對所述2值信號的翻轉(zhuǎn)位置未落入所述判定區(qū)間內(nèi)的次數(shù)(或者落入的次數(shù))進行計數(shù)；所述抖動測量儀輸出所述相位計數(shù)器的計數(shù)值
001 芯片上抖動的測量裝置及方法
010 一種基于頻率測量的弱低頻瞬時抖動信號檢測電路
002 減少等待時間抖動
005 基于以理想周期信號得到的取樣數(shù)據(jù)串來測量抖動的電路
006 數(shù)字式相位抖動調(diào)制幅度自動增益控制電路
以上10項技術(shù)包括在一張光盤內(nèi)
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