鋰電池保護(hù)ic套裝DW01+ 8205E

批發(fā)數(shù)量
梯度價(jià)格
型號(hào)
DW01+ 8205E
品牌
FORTUNE/臺(tái)灣富晶
類型
其他IC
封裝
SOT23-6
批號(hào)
12+

一、典型應(yīng)用注意事項(xiàng)
  1. 布線時(shí),走大電流的主回路中的走線應(yīng)盡量短和寬;信號(hào)線寬度可適當(dāng)細(xì)一些。PCB總的走線內(nèi)阻一般須控制在在40-85mΩ之間。
  2. PCB板底層金手指部位對(duì)應(yīng)的頂層區(qū)域盡量不要放置元器件及過(guò)孔,以免在生產(chǎn)時(shí)由于焊接導(dǎo)致金手指脫落。
  3. 元器件(電阻、電容)宜選用同一規(guī)格,一般選用0402封裝,若PCB空間允許,也可以選用0603封裝。
  4. PCB的外形結(jié)構(gòu)必須要符合電池的外部結(jié)構(gòu)。
  5. 外圍元器件參數(shù)選擇:

·R1<1kΩ。R1值過(guò)大會(huì)導(dǎo)致檢測(cè)電壓變高而產(chǎn)生錯(cuò)誤。
·R2<2.5kΩ。R2值過(guò)大可能導(dǎo)致即使在接充電器時(shí),系統(tǒng)也無(wú)法從過(guò)放狀態(tài)回復(fù)。
·R1+R2>1kΩ。該值過(guò)小會(huì)導(dǎo)致功耗超過(guò)IC的額定功耗值。
·以上參數(shù)不能確保適用于所有應(yīng)用環(huán)境,請(qǐng)通過(guò)測(cè)試選用合適的參數(shù)。
 
 
二、常見(jiàn)失效模式及故障排除

常見(jiàn)故障

可能原因

處理方法及對(duì)策

接1kΩ負(fù)載時(shí)PACK輸出零電壓,PACK內(nèi)阻無(wú)窮大

R1開(kāi)路或虛焊

重新焊接R1

C1短路或嚴(yán)重漏電

重新焊接或更換C1

MOSFET G/S極管腳開(kāi)路或虛焊

重新焊接失效MOSFET

MOSFET GS短路或嚴(yán)重漏電

更換失效MOSFET

保護(hù)IC VDD/DO/CO開(kāi)路或虛焊

重新焊接保護(hù)IC

VDD與VSS間嚴(yán)重漏電

更換失效保護(hù)IC

VDD與VSS、VDD與VM、DO與VSS、CO與VSS、DO與VM、CO與VM間短路

更換失效保護(hù)IC

接1kΩ負(fù)載時(shí)PACK輸出零電壓,PACK零內(nèi)阻

C3短路

重新焊接或更換C3

接1kΩ負(fù)載時(shí)PACK輸出低電壓

R2開(kāi)路或虛焊

重新焊接R2

VM開(kāi)路或虛焊

重新焊接保護(hù)IC