MR3100高精密「霍爾效應(yīng)」/「磁電阻」量測設(shè)備

批發(fā)數(shù)量
梯度價格
型號
MR3100
品牌
WEISTRON
加工定制
類型
磁性元件測試
    • 產(chǎn)品詳細介紹 請見中文官網(wǎng)  http://www.weistron.com.cn/ 
    • 產(chǎn)品信息
    • 名稱:高精密「霍爾效應(yīng)」/「磁電阻(MR)」量測設(shè)備
               Programmable Hall Effect / Magnetoresistance (MR)
                Measurement System
    • 品牌:WEISTRON

    • 產(chǎn)品特點

自動依序量測在不同磁場下,納米組件或薄膜之霍爾電壓或磁電阻,可同時從16根探針中(可依需求定制化增加探針數(shù)),程控依序選取不同探針組進行自動量測。另提供電極片及彈性探針座選購。適用于半導(dǎo)體相關(guān)檢測產(chǎn)業(yè)。
 
    • 主要用途

在磁場作用下的電性測量是了解半導(dǎo)體與磁性元件之基本特性的一個重要方法。透過測量其基本參數(shù),例如:電壓、電阻...等,可以了解半導(dǎo)體與磁性元件之電荷傳輸性質(zhì)。例如:在磁場下帶有電流之半導(dǎo)體,透過量測半導(dǎo)體兩側(cè)之電壓,我們可以知道的參數(shù),如:載子的正負電荷、濃度、遷移率…等。在另一種情況下,通過測量磁性元件在各種磁場下之電阻,就可以知道自旋傳輸特性與自旋電子元件的磁化過程。
 

  •  

  • 產(chǎn)品規(guī)格描述-超高精密電阻量測需求,適用于低功率奈米元件及結(jié)構(gòu)

1.磁場系統(tǒng)
1-1. 電磁鐵 (極面尺寸50mm,氣隙小于20mm時,磁場強度可達0.6T )
1-2. 電源供應(yīng)器 (功率600 Watts, 最大電壓電流60V/20A)
1-3. 內(nèi)建高斯計 (量測范圍 : 10k 高斯到 1 高斯)

 2.探針座系統(tǒng)
2-1. 樣品載臺與探針座 (16根探針)

 3. 控制系統(tǒng)
3-1. 內(nèi)建電腦 (附微軟作業(yè)系統(tǒng))
3-2. 內(nèi)建軟件介面,容易操作執(zhí)行數(shù)據(jù)量測及分析 
★精密低電流源,可量測到0.1pA。
★精密低電壓源,可量測到nano-volt。
★適用于只能乘載微小電流之奈米結(jié)構(gòu)。
★特殊之量測模組可有效去除雜訊,量測精度高。
★電阻之量測范圍從10nΩ至100MΩ。
★電流輸出之分辨率可達100fA,最大電流為±105mA。
★最大可量測電壓為±105V。

 3-3. 內(nèi)建高精度數(shù)據(jù)量測系統(tǒng)
 3-4. 程控依序選取不同電極之四探針量測
 4. 其他
 4-1. 液晶顯示器
 4-2. 鍵盤及鼠標
 
 
 
 
 

 

技術(shù)規(guī)格



高精密「霍爾效應(yīng)」/「磁電阻(MR)」量測設(shè)備

型號

MR1100

MR2100

MR3100

功能
介紹

精密四點電阻量測需求。

高精密四點電阻量測及
半導(dǎo)體IV量測需求。

超高精密電阻量測需求,
適用于低功率奈米元件及結(jié)構(gòu)。

型號
特色

★量測精度6位半。
★量測精度在4位半時,
  取樣速度每秒可達3000點。
★電阻最大可量到100MΩ。
★電阻分辨率100μΩ。

★量測精度5位半。
★量測精度在4位半時,
  取樣速度每秒可達1700點。
★電阻最大可量到200MΩ。
★可進行通I量V或通V量I之
  IV曲線,可四象限操作。
★電壓范圍可從±1μV至±210V。
★電流范圍可從±10pA至
  ±1.05A。

★精密低電流源,
  可量測到0.1pA。
★精密低電壓源,
  可量測到nano-volt。
★適用于只能乘載微小電流之
  奈米結(jié)構(gòu)。
★特殊之量測模組可有效去除
  雜訊,量測精度高。
★電阻之量測范圍從10nΩ至
  100MΩ。
★電流輸出之分辨率可達
  100fA,最大電流±105mA。
★最大可量測電壓為±105V。

共同
規(guī)格

 
(1)內(nèi)建高斯計。
(2)探針座(16-pin)。
(3)壓針升降臺。
(4)計算機(含Windows系統(tǒng))及顯示器。
(5)電磁鐵(含電源供應(yīng)器): 非水冷型,磁場可達6000 Guass以上。
(6)程控隨選功能之控制板及軟體,可同時從16根探針中,程控依序選取不同探針組進行
   自動量測。
 

    

 

儀器測試結(jié)果(Model: MR3100)           
量測樣品: NiFe nanowire /thickness 40 nm / line width 100 nm