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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | AM28F512A-120JC |
| 廠商： | ADVANCED MICRO DEVICES INC |
| 元件分類： | PROM |
| 英文描述： | Divide-By-Twelve Decade Counter 14-SOIC 0 to 70 |
| 中文描述： | 64K X 8 FLASH 12V PROM, 120 ns, PQCC32 |
| 封裝： | PLASTIC, LCC-32 |
| 文件頁數(shù)： | 17/34頁 |
| 文件大?。?/td> | 463K |
| 代理商： | AM28F512A-120JC |
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Am28F512A
24
SWITCHING TEST WAVEFORMS
SWITCHING CHARACTERISTICS over operating range unless otherwise specified
AC Characteristics—Read Only Operation
Notes:
1. Guaranteed by design not tested.
2. Not 100% tested.
Parameter Symbols
Parameter Description
Am28F512A Speed Options
Unit
JEDEC
Standard
-70
-90
-120
-150
-200
tAVAV
tRC
Read Cycle Time (Note 2)
Min
70
90
120
150
200
ns
tELQV
tCE
Chip Enable Access Time
Max
70
90
120
150
200
ns
tAVQV
tACC
Address Access Time
Max
70
90
120
150
200
ns
tGLQV
tOE
Output Enable Access Time
Max
35
50
55
ns
tELQX
tLZ
Chip Enable to Output in Low Z
(Note 2)
Min
0000
0
ns
tEHQZ
tDF
Chip Disable to Output in High Z
(Note 1)
Max
20
203035
35
ns
tGLQX
tOLZ
Output Enable to Output in Low Z
(Note 2)
Min
0000
0
ns
tGHQZ
tDF
Output Disable to Output in
High Z (Note 2)
Max
20
203035
35
ns
tAXQX
tOH
Output Hold from first of Address,
CE
Min
0000
0
ns
tVCS
VCC Setup Time to Valid Read
(Note 2)
Min
50
505050
50
s
18880C-17
3 V
0 V
Input
Output
1.5 V
Test Points
AC Testing for -70 devices: Inputs are driven at 3.0 V for a
logic “1” and 0 V for a logic “0”. Input pulse rise and fall times
are
≤10 ns.
2.4 V
0.45 V
Input
Output
Test Points
2.0 V
0.8 V
AC Testing (all speed options except -70): Inputs are driven
at 2.4 V for a logic “1” and 0.45 V for a logic “0”. Input pulse
rise and fall times are
≤10 ns.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| AM28F512A-120JCB | Divide-By-Twelve Decade Counter 14-SOIC 0 to 70 |
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參數(shù)描述 |
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